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日本hrd-thermal 热波分析仪

描述：日本hrd-thermal 热波分析仪，采用半导体激光周期加热 + InSb 红外测温，无需接触样品，可测有机薄膜→金刚石超宽范围热扩散率，并换算导热系数 / 热渗透率；支持面内 / 面外各向异性与多点 mapping 缺陷检测，广泛用于 5G、半导体、新能源、复合材料研发与品控。

  • 产品型号：TA 系列
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-05-28
  • 访问量：62
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本hrd-thermal 热波分析仪

TA 系列基于周期加热辐射测温法（激光热波法），用 808nm 半导体激光对样品周期性加热，高灵敏度红外探测器采集表面温度波信号，解析得到热扩散率。全程非接触、无需制样、样品放置即可测；可测水平 / 垂直方向，评估各向异性；可做二维分布，直观显示材料内部缺陷、空隙、不均质。

日本hrd-thermal 热波分析仪

1. 核心特点

  • 非接触无损测量：避免接触热阻与样品损伤，适合超薄 / 脆性 / 软材料

  • 超宽量程：热扩散率 0.1～1000×10⁻⁶ m²/s，覆盖低导热高分子→高导热金刚石 / 金属

  • 各向异性分析：水平 / 垂直双方向测量，评估复合材料、涂层定向导热特性

  • 分布测量（mapping）：多点扫描生成热扩散率云图，检测裂纹、分层、孔隙

  • 简单操作：样品自由放置、无需固定；电脑软件一键测量与解析

  • 参数换算：自动输出热扩散率、导热系数、热渗透率

2. 测量原理

周期加热辐射测温法：激光在样品表面做周期性加热，产生向内部传播的热波；红外探测器同步检测表面温度波动的幅度衰减与相位延迟，结合热传导方程求解热扩散率；输入密度与比热容即可算出导热系数。

3. 应用场景

  • 半导体 / 电子：晶圆、陶瓷基板、散热膜、高导热复合材料

  • 新能源：电池隔膜、电极材料、隔热垫

  • 高分子：薄膜、涂层、泡沫、橡胶、塑料

  • 碳材料：石墨烯、碳纳米管、金刚石膜

  • 金属 / 陶瓷：各向异性材料、烧结体、涂层缺陷检测

4. 技术规格（TA35/33/32/31）

  • 型号：TA35 / TA33 / TA32 / TA31

  • 测量对象：热扩散率（α）

  • 测量范围：0.1～1000×10⁻⁶ m²/s

  • 精度：±5% 以内（标准样品）

  • 重复性：±5% 以内

  • 加热源：808nm 半导体激光

  • 测温方式：InSb 红外辐射温度计

  • 测量方向：水平（面内）、垂直（面外）

  • 样品形态：块状、片状、薄膜、不规则形状

  • 样品尺寸：不限（台面 φ100mm）

  • 输出数据：α、λ（导热系数）、热渗透率、频率 / 相位 / 幅度

  • 外形尺寸：W560×D740×H690mm

  • 重量：约 80kg

  • 电源：AC100～240V，50/60Hz

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