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德国Precitec 高速光谱共焦线扫 3D 传感器

描述:德国Precitec 高速光谱共焦线扫 3D 传感器
CHRocodile CLS HS 是德国 Precitec 专为高速量产精密质检打造的光谱共焦线扫 3D 测量设备,依托同轴共焦光学原理,一次性完成整条线阵列海量测点同步采集,无需分点往复扫描,大幅提升自动化产线检测节拍。整机采用无源无电子元件光学探头,长期连续工作无发热漂移,适配半导体、医疗洁净车间严苛环境。

  • 产品型号:CHRocodile CLS HS
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-30
  • 访问量:89
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

德国Precitec 高速光谱共焦线扫 3D 传感器

基础规格参数

型号:CHRocodile CLS HS(德国 Precitec 高速光谱共焦线扫传感器)
测量原理:白光光谱共焦同轴线扫描技术
光路结构:同轴入射接收,无阴影测量
光学探头:无源无发热光学测头,多款高 NA 镜头可更换
扫描模式:高速并行全线采集,无通道信号串扰
适配工件:透明玻璃、晶圆、金属、黑色塑料、涂层薄膜、微型引线
测量指标:3D 轮廓、台阶段差、多层膜厚、凸点高度、共面度
机身结构:紧凑型一体式工业金属测头,适配无尘洁净车间
配套主机:CHRocodile 系列专用光谱控制器,多工业通讯输出
运行工况:自动化量产无尘产线、常温精密研发实验室,无强腐蚀液体直喷环境
合规标准:欧盟工业精密光学计量规范,医疗 / 半导体行业检测标准

德国Precitec 高速光谱共焦线扫 3D 传感器

适用检测场景

  1. 半导体晶圆、芯片微凸点 Bump 高度批量在线检测

    芯片阵列微小凸点全域扫描,管控凸点均匀度、共面度,提前预判封装虚焊隐患,稳定芯片良率。

  2. 微电子引线键合 20μm 超细引线轮廓测量

    PCB、芯片引线高度、偏移量高速检测,识别引线塌陷、偏移不良,适配封装产线不间断质检。

  3. 消费电子曲面显示屏、中框段差、缝隙全检

    手机弧形盖板、金属中框装配间隙、台阶高度高速扫描,统一整机外观手感,筛选装配不良工件。

  4. 摄像头模组镜头座共面度、胶体厚度检测

    镜头底座、封装胶体轮廓批量采集,管控镜头倾斜、溢胶缺陷,保障成像无畸变。

  5. 光学玻璃、镀膜薄膜多层厚度均匀性分析

    透明基板、功能涂层同步分层测厚,评估镀膜工艺均匀度,优化蒸镀、涂布生产参数。

  6. 精密注塑、金属微型零部件离线研发对比试验

    多组模具、冲压试样完整 3D 轮廓采集,对比不同工艺工件形貌差异,辅助新品结构研发。

  7. 第三方精密光学计量机构委托工件公证检测

    出具完整可溯源 3D 轮廓检测报告,用于电子、医疗产品贸易仲裁、资质申报审核。

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