描述：美国Jelight 高精度紫外辐射照度计
JEL-2400 是美国 Jelight 原厂推出的科研级触屏式光电光度计，专为 UV 臭氧清洗机、紫外固化、光老化实验、光学光路校准、半导体光刻紫外能量检测场景打造，普通紫外照度计量程单一、微弱紫外信号无法捕捉、无内置存储不能记录时序数据、屏幕操作简陋、仅适配单一探头、无内置锂电外勤携带不便、无法积分计算曝光总量等行

基础核心参数

1. 信号检测区间：1pA～1mA 皮安级宽量程微弱光电流采集

2. 屏幕配置：4.3 英寸彩色电容触控 TFT 大屏，多参数同屏显示

3. 量程模式：全自动三档增益切换，无需手动调节档位

4. 积分功能：曝光剂量积分累加模式，自动计算总紫外辐照量

5. 存储容量：内置 4G 本地存储器，批量留存时序光强检测数据

6. 探头接口：15 针 D-SUB 通用传感接口，兼容全系 Jelight 紫外探头

7. 供电续航：内置充电锂电池，单次充满连续运行 4～8 小时

8. 数据导出：Mini USB/Micro USB 双接口，电脑直连导出原始数据

9. 偏置输出：可提供 5V/9V 反向偏置，适配特殊光电传感探头

10. 整机尺寸：轻量化手持式一体化机身，单手可握持外勤巡检

11. 适配工况：无尘实验室、半导体 UV 制程车间、光老化试验箱常温环境

12. 适配配套：UV 臭氧清洗机、紫外固化灯、光刻光源、光加速老化设备

核心功能特点

1. 1pA 超高灵敏度采集，微量微弱紫外光源也可稳定精准读数

2. 4.3 英寸彩色触控大屏，强光车间、实验室操作界面清晰直观

3. 全自动三档增益量程，强紫外、弱微光工况自动切换无需手动调整

4. 曝光积分累加运算，精准统计材料、基板接收总紫外辐照剂量

5. 4G 大容量本地存储，长时间光老化试验完整留存全程时序数据

6. 通用 D-SUB 探头接口，UVA/UVB/UVC 多波段探头可快速更换适配

7. 5V/9V 反向偏置供电，特种光电传感探头无需额外外置驱动电源

8. 锂电无线便携机身，无尘车间、厂区多点位外勤离线巡检无束缚

适用场景

1. 半导体 UV 臭氧清洗设备紫外辐照强度、均匀度定期校准校验

2. 材料光加速老化试验全程紫外光强时序跟踪、总剂量统计

3. 光学实验室光路紫外光源、激光辅助紫外能量精准测定

4. 光刻、UV 固化生产线紫外灯衰减程度常态化巡检检测

5. 高校光学、材料专业科研微量微弱紫外信号采集实验

6. 第三方光电子、半导体 UV 工艺公证计量验收配套工装

7. 薄膜、高分子材料紫外辐照改性实验剂量精准管控

8. 无尘实验室各类紫外光源出厂、定期精度标定工序