描述：日本CHINO千野硅单晶炉双色红外辐射温度计IR‑CZ 为单晶硅直拉炉专用双色红外测温仪，非接触式测温，可抵抗炉内烟尘干扰。测温范围 600~3500℃，小光斑测量，适配狭小观察窗口。配套 IR‑FA 光纤高温测温系列，用于硅熔液、加热器温度监测。实时采集温度数据，保障单晶拉制工艺稳定，广泛用于半导体硅材料生产。

日本CHINO千野硅单晶炉双色红外辐射温度计日本CHINO千野硅单晶炉双色红外辐射温度计

产品详情产品细节图可生成测温主机实拍、光纤探头特写、安装在单晶炉观测口装配图，工业场景背景，展示主机、光纤线缆、测温探头。

产品性能双色测温原理，有效抑制炉内烟雾、蒸汽带来的测量干扰，高温环境测量稳定性高。小光斑光学设计，可透过狭小炉体观察窗口测量。光纤式探头可远离高温区域，保护主机。输出标准工业信号接入 DCS 系统，实时上传温度数据，便于工艺闭环控制。响应速度快，可实时捕捉炉内温度波动，保障硅单晶生长品质。

用材主机外壳钢板喷涂防腐涂层；光纤为特种耐高温石英光纤；探头外壳耐温合金；光学镜片为耐高温石英。

参数表

表格

型号IR‑CZ 双色红外测温仪；IR‑FA 光纤式高温红外测温单元。

用途半导体单晶硅、多晶硅 CZ 直拉炉，熔融硅液面、加热器高温监测，冶金高温熔融温度检测。

包装出口木箱，内含测温主机、光纤组件、安装支架、说明书、出厂校验报告，填充缓冲泡沫。

使用说明主机安装在远离高温区域，光纤探头固定在单晶炉观察窗口，布线避免急弯。接线接入控制系统，设置发射率参数。定期清洁前端光学窗口，防止炉内挥发物附着，影响测温精度。光纤避免大力拉扯。

售后服务测温主机质保，核心光学组件非人为损坏可维修。光纤、光学窗口污染磨损不在质保；可远程指导参数设置，现场技术支持。