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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本 katsura-opto三轴夹角位移倾斜传感器日本 katsura-opto三轴夹角位移倾斜传感器
VH-1200 为桂光学一体化三轴光学传感器,结合自准直仪与三角测量原理,单束激光同时检测 Z 向位移、θX 与 θY 两个方向倾斜夹角,属于非接触式测量设备。被测工件推荐为反射率 80% 以上光学平面,采样速率最高 10kHz,模拟 ±5V 信号输出。传感器探头与信号处理单元集成一体,体积紧凑,便于嵌入精密设备。用于光学元件、晶圆、精密载台的平行度、微小倾角与高度位移在线检测,实时反馈姿态偏差,广泛应用半导体、光学组装、精密加工领域。
产品细节图整机为一体化方形金属盒结构,正面设置激光出射窗口,侧面搭载信号输出连接器与供电端子,自带激光警示标识。内部集成激光发射单元、光学接收元件与信号处理电路,无需外接独立控制器。单束激光发射至被测光学平面,反射光由内部感光元件接收,同时解析高度位移以及两个正交方向的倾斜角度。设备预留标准安装孔,可直接固定在自动化设备机架,适配产线自动化集成。配套上位机软件可实时采集波形、记录连续变化数据,便于工艺分析。
产品性能融合三角测距法与自准直测量原理,仅一束激光,即可同步采集三轴数据,分别为 Z 轴位移、X 轴倾角、Y 轴倾角,一次测量同时获取高度与二维倾斜夹角,减少多传感器布局带来的安装误差。最高 10kHz 高速采样,适合动态姿态监测,捕捉微小、快速的角度与位移变化。采用 ±5V 模拟电压输出,可直接接入工控采集卡,用于闭环反馈控制。设备对被测面有反射率要求,光学抛光平面测量效果更佳。整机一体化设计,省去分体式传感头与控制器之间的信号线缆,降低信号干扰,安装调试步骤简化。可实时监测精密载台俯仰、偏摆、高度变化,用于光学元件贴合、晶圆键合工序,实时判定贴合面平行度。
用材外壳采用铝合金材质,轻量化且具备电磁屏蔽效果,抵御工业现场电磁干扰。光学窗口使用高透光光学玻璃,表面镀防护增透膜,防尘抗轻微划伤。内部激光器为半导体激光元件;光学支架采用精密加工铝合金,温度形变小,保证光路长期稳定。内部电路板做防潮涂层,连接器为金属屏蔽接头,降低外部噪声干扰。
参数表
表格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | VH-1200 |
| 测量项目 | Z 位移、θX 倾角、θY 倾角(三轴同步测量) |
| 测量原理 | 三角测距 + 自准直复合光学方式 |
| 适用被测物 | 光学平面,推荐反射率≥80% |
| 采样频率 | 最高 10000Hz(10kHz) |
| 信号输出 | ±5V 模拟量输出 |
| 激光波长 | 660nm 红色半导体激光 |
| 工作距离 | 60mm±0.5mm |
| 位移量程 | ±1.5mm |
| 倾斜测量范围 | ±60 角分 |
| 供电规格 | DC24V |
| 使用环境 | 10~35℃,30~70% RH,无结露、无强振动 |
用途半导体晶圆键合、贴合面平行度检测;光学镜片、透镜组装姿态监测;精密位移平台俯仰、偏摆、高度偏差检测;光学元件、玻璃基板微小角度与位移质检;自动化设备光轴对准、精密压装过程实时监控;实验室光学平面平面度、夹角测试。
包装原厂硬质纸箱包装,内部缓冲泡沫保护光学窗口与连接器。内含传感器主机、电源线、信号线缆、说明书、出厂检测报告。上位机采集软件、数据采集卡属于选配件,单独分装。
使用说明将传感器固定在设备机架,调节安装位置,使激光垂直入射被测光学平面。接入 DC24V 电源,连接模拟信号采集线路。开机预热,完成基准标定,设定零点。设备发射激光照射样品,反射光被内部光学系统接收,实时输出位移与双轴倾角信号。使用过程避免粉尘附着光学窗口,粉尘会造成测量漂移。不可直视激光光束;避免剧烈震动传感器,防止内部光路偏移。定期使用标准光学参考平板复核测量精度。
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