描述：日本kenko-tokina波长可调卤素光源检测KT-M1020D 为肯高图丽 PC 控制式波长可变卤素光源，搭载 LVF 线性可变滤光片，可在近红外波段自由选定输出波长。标配 12V100W 卤素灯，色温 3000K，通过配套软件设置波长参数，支持模拟调光与灯泡故障信号输出。可搭配光纤输出光线，用于晶圆膜厚检测、硅片背面图案观察、食品异物无损筛查、树脂材料判定。替代单色 LED 与带通滤光片方案

日本kenko-tokina波长可调卤素光源检测日本kenko-tokina波长可调卤素光源检测

KT-M1020D 为肯高图丽 PC 控制式波长可变卤素光源，搭载 LVF 线性可变滤光片，可在近红外波段自由选定输出波长。标配 12V100W 卤素灯，色温 3000K，通过配套软件设置波长参数，支持模拟调光与灯泡故障信号输出。可搭配光纤输出光线，用于晶圆膜厚检测、硅片背面图案观察、食品异物无损筛查、树脂材料判定。替代单色 LED 与带通滤光片方案，适配实验室光谱成像与工业在线检测。

产品介绍

产品细节图整机为小型台式金属箱体，前面板配置电源开关、灯泡告警指示灯，侧面为光纤输出接口，可接驳红外光纤导管。背板搭载 D-Sub15P 外部控制端子，可接入模拟调光信号，实现外部亮度控制。设备依靠电脑配套软件进行波长设定，无需手动更换滤光片，切换波段操作便捷。整机体积紧凑，占用实验台空间小，光纤分离式输出，可将光引导至狭小检测工位。箱体预留散热风道，长时间连续工作稳定。配套软件可保存多组波长参数方案，方便多项目测试快速调用。

产品性能以卤素灯作为宽谱基础光源，利用 LVF 线性可变滤光片实现连续波长选择，实际可用波段 1250~2200nm，理论波长分辨率 25nm/mm。支持 PC 软件远程设定目标波长，也可接收 0~5V 模拟电压进行亮度调节。内置灯泡熔断检测功能，灯泡损坏时输出告警信号，便于系统联动保护。标准灯泡平均寿命 1000 小时，可选配 15V150W 高功率灯泡，满足高亮度需求。光源输出波段纯净，杂光抑制良好，适合薄膜膜厚测算、材料近红外吸收特性检测。可用于硅晶圆背面成像，穿透硅基材观测底层图案；食品领域用于内部瑕疵、糖度无损分选，一机满足多类光谱成像需求，可替代多组单色照明与滤光片组合。

用材机箱采用 SECC 冷轧钢板，表面喷涂防护涂层，具备电磁屏蔽能力，降低工业环境电磁干扰。内部光学支架为铝合金，稳定性好，抑制光路偏移；LVF 线性可变滤光片采用精密光学元件。卤素灯座耐高温陶瓷材质，光纤接口座精密加工，保障光纤耦合效率。端子座为耐高温工程塑料，内部线路使用屏蔽线缆，减少外部信号干扰。配套光纤为红外石英光纤，近红外波段透光率高。

参数表

表格

用途半导体晶圆薄膜厚度测量；硅片背面图案透射观察；食品、药品内部异物无损检测；水果糖度、新鲜度分选；树脂材料鉴别、老化判定；包装容器透视非破坏性检查；光谱成像实验，替代单色 LED 与带通滤光片。

包装原厂硬质纸箱包装，内部缓冲泡沫保护光学组件。包装内含光源主机、配套软件光盘、电源线、说明书、出厂检验报告。红外光纤、高功率卤素灯泡、信号连接线属于选配件，单独分装。

使用说明放置设备于平整通风台面，连接光纤导管至输出接口，接入电源与电脑通讯线缆。安装配套控制软件，开机预热光源，在软件设置目标波长。可接入外部模拟信号，实现自动化亮度调节。作业时不要遮挡散热通风口，防止热量堆积。光纤端面禁止磕碰、划伤，端面沾染粉尘会降低光输出效率。卤素灯泡属于耗材，光强衰减后进行更换。设备避免剧烈震动，防止内部光学滤光片移位，定期复核波长基准。