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日本DMT定制二维磁力分布测量设备分析仪

描述:日本DMT定制二维磁力分布测量设备分析仪MAD-200 是日本 DMT 受注定制二维磁力分布分析仪,用于永磁体表面磁场二维扫描检测,搭载频率解析功能,回转角度分辨率最高 21600p/rev。可分析磁场波形、谐波、各磁极峰值、角度与面积,支持最多 6 组样品波形同时对比,可选 FC-075 超细探针,适合微小磁件检测。配套 PC 分析软件,生成二维磁场分布图,多用于电机磁钢、磁环、磁瓦充磁品质

  • 产品型号:MAD-200
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-10-16
  • 访问量:49
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本DMT定制二维磁力分布测量设备分析仪日本DMT定制二维磁力分布测量设备分析仪

MAD-200 是日本 DMT 受注定制二维磁力分布分析仪,用于永磁体表面磁场二维扫描检测,搭载频率解析功能,回转角度分辨率最高 21600p/rev。可分析磁场波形、谐波、各磁极峰值、角度与面积,支持最多 6 组样品波形同时对比,可选 FC-075 超细探针,适合微小磁件检测。配套 PC 分析软件,生成二维磁场分布图,多用于电机磁钢、磁环、磁瓦充磁品质评估,为永磁产品研发与产线质检提供完整磁场数据。

产品介绍

产品细节图整套系统由旋转测量主机、控制单元、霍尔探针组件与配套工控电脑组成。主机搭载精密旋转卡盘,可夹持磁环、磁瓦、圆柱永磁样品;上部探针支架支持上下、前后微米级微调,精准控制探针与被测磁体间隙。控制单元面板配备显示屏、功能按键与状态指示灯,主机底部减震结构降低外界震动干扰。配套 FC-075 超极细探针,尺寸 0.6mm×0.28mm,可进入狭小间隙采集局部磁场。电脑端专业分析软件,界面可实时展示二维磁场波形与数据图谱,整套设备布局紧凑,适合实验室与精密质检车间。

产品性能设备采用旋转扫描方式采集永磁体表面磁场,实现二维磁力分布可视化测量,内置频率解析功能,对磁场谐波进行分析,可与标准正弦波形对比,直接输出差值。回转角度分辨率最高 21600 点每转,支持 0.5~10RPM 可编程调速,最多可处理 512 极磁体。软件自带光标测量工具,水平光标可读取任意点位磁场数值,垂直光标输出交叉列表数据;记忆功能可同时加载并对比 6 组样品波形,便于批次之间差异比对。搭配超细探针,能够完成微型磁钢、窄缝隙位置的局部磁场检测,A/D 采集非线性度 ±0.2% FS,测量稳定,适合评估充磁均匀度、磁极偏移、磁场波纹等关键指标。

用材主机机架采用厚重铸铁基座,抑制震动,保障旋转定位精度。旋转卡盘与运动调节组件使用高强度合金,耐磨,长期重复装夹不易产生间隙。FC-075 超细探针内部精密霍尔传感元件,探针外壳绝缘耐磨。控制单元壳体为喷涂冷轧钢板,抗电磁干扰;内部采集电路板做屏蔽处理,降低外界磁场干扰。配套信号线缆为高屏蔽线材,减少杂磁、电磁噪声对采集信号的影响。工控机搭载专用测量软件,算法经过大量永磁测试验证,数据运算稳定。

参数表

表格

项目参数
型号MAD-200(受注定制款)
测量类型二维磁力分布扫描,旋转磁场解析
角度分辨率最高 21600p/rev
旋转速度0.5~10RPM,可编程调速
最大处理极数512 极
AD 转换12 位,非线性度 ±0.2% FS
可选探针FC-075 超细探针 0.6mm×0.28mm
样品夹持Φ1~Φ78mm 圆柱 / 磁环 / 磁瓦
软件功能谐波分析,6 组波形同时对比
输出数据磁极峰值、角度、面积,二维图谱
供电AC100V
系统组成旋转主机、控制单元、探针、工控 PC

型号MAD-200 为 DMT 二维专用磁力分析仪,属于订单定制生产机型。同系列还有三维磁场解析型号。整套系统包含旋转载台、控制单元、霍尔探针、PC 与分析软件,可根据客户样品尺寸、磁场量程、空间限制定制卡盘、探针支架与测量程序,适配不同规格永磁工件检测需求。

用途电机磁钢、磁环、磁瓦充磁品质检测;永磁体二维磁场分布测绘;磁场波纹、谐波分析;磁极角度、峰值磁通密度评估;微型永磁元器件、精密转子磁体研发测试;来料抽检、成品出厂质检;永磁充磁工艺优化,排查充磁不均、磁极偏移缺陷,保障电机运转平顺,降低扭矩波动。

包装定制重型防震木箱,铸铁主机、控制单元、探针、电脑分区域泡沫隔离防护,防止运输震动损伤精密旋转机构与霍尔探针。箱内附带原厂出厂检验证书、操作手册,探针单独密封收纳;外层加固防护,适合进口长途运输,设备到场后开箱清点配件。

使用说明设备放置在减震平台,固定样品于旋转卡盘,调节探针支架,控制探针与磁体保持设定间隙;连接控制单元与工控电脑,接入 AC100V 电源,启动配套测量软件。设置旋转转速、采样参数,启动扫描,设备旋转采集磁场数据,软件自动生成二维磁场分布波形,计算磁极峰值、角度、谐波等参数。可保存波形,多组样品进行比对。使用环境远离强磁场源,定期校准探针;测量结束清洁卡盘,探针避免磕碰撞击。


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