描述：日本Kenko-Tokina卤素光源晶圆食品膜厚检测日本 Kenko-Tokina 肯高图丽 KT-M1020D 波长可调卤素光源，搭载 LVF 线性可变滤光片，近红外波段自由选波，无需多组 LED 灯源。波长区间 1250~2500nm，实用区间 1250~2200nm，配套专用软件 PC 设定波长，支持外部指令控制。标配 1m 红外光纤输出，可搭配 SWIR 相机，用于硅晶圆背面观察、薄膜膜厚

日本Kenko-Tokina卤素光源晶圆食品膜厚检测日本Kenko-Tokina卤素光源晶圆食品膜厚检测

日本 Kenko-Tokina 肯高图丽 KT-M1020D 波长可调卤素光源，搭载 LVF 线性可变滤光片，近红外波段自由选波，无需多组 LED 灯源。波长区间 1250~2500nm，实用区间 1250~2200nm，配套专用软件 PC 设定波长，支持外部指令控制。标配 1m 红外光纤输出，可搭配 SWIR 相机，用于硅晶圆背面观察、薄膜膜厚测量，食品果蔬糖度 / 异物无损检测、树脂材质鉴别。适合半导体、食品、材料实验室，单台光源覆盖多种单色光谱检测，简化检测光路搭建。

产品介绍

本产品为日本 Kenko-Tokina（肯高图丽）KT-M1020D 波长可变卤素光源，主光源为卤素灯，依托 LVF 线性可变滤光片技术，一台设备可输出不同近红外单色光，替代多组固定波长 LED 光源。通过 PC 软件自由设定目标波长，也可通过外部通讯指令远程控制输出，适配机器视觉、光谱成像类检测场景。搭配 SWIR 红外相机，完成晶圆内部观测、薄膜膜厚测量、食品异物无损筛查、高分子材料判定，广泛用于半导体、食品、新材料研发与在线检测。

产品性能：采用 LVF 线性可变滤光片，波长可连续设定，波长理论分辨率 25nm/mm，实用波长 1250~2200nm，覆盖短波红外区间。主机内置卤素灯，输出光谱稳定；自带模拟调光输入，可调节光强。标配 1m 红外光纤导出光线，便于集成到检测设备腔体。配套 PC 专用软件，可视化设置波长参数；具备灯泡寿命监测、灯泡断线告警输出，可远程熄灯控制。光路杂光抑制优异，非目标波段透过率控制在 1% 以下。支持设备嵌入自动化产线，D-Sub15P 接口实现外部信号联动，适合批量在线检测。

用材：主机壳体采用硬质铝合金壳体，结构紧凑，抗电磁干扰。内部光学元件经过稳定化处理，降低温漂对波长精度的影响；卤素灯座散热结构优化，长时间连续运行温度可控。红外光纤选用适配 SWIR 波段光纤，传输损耗低；接口接头精密加工，减少漏光。电控板带屏蔽防护，适应工业车间电磁环境。

核心参数表

表格

用途：半导体硅晶圆背面图案观察；薄膜、涂层非接触膜厚检测；食品、医药异物无损检测；果蔬糖度、新鲜度、缺陷分选；树脂材料鉴别、老化判定；不透明包装内部透视检测；材料近红外光谱成像试验；实验室光学研究、机器视觉开发，替代多组单色 LED 照明方案。

包装：整套包装包含 KT-M1020D 光源主机、1m 红外光纤、电源线、配套 PC 软件光盘、原厂操作手册。硬质木箱防护，光纤、光学接口单独缓冲保护。选配长光纤、专用镜头单独分装。

使用说明：设备放置于干燥无结露环境，连接 PC 与控制线缆，安装配套软件。开机预热光源，在软件设定目标波长，调整光强，光纤输出近红外单色光，对接 SWIR 相机与检测光路。运行时监控灯泡状态告警信号。设备停机等待光源冷却后再收纳。光纤弯折半径不能小于最小弯曲半径，防止光纤损坏；光学端面禁止触碰，仅可用无尘镜头纸清洁。禁止拆解内部 LVF 滤光组件，会造成波长偏移。定期检查卤素灯泡老化状态，按需更换。