描述：日本PWS-1000高速波面传感器波面像差光学这款波面传感器，采用微透镜阵列分光方式，可实时读取波面的相位起伏。动态范围大，能测传统干涉方式难以处理的大像差。波长覆盖从深紫外到短波红外的多个区间，可用于透镜与镜面的透射、反射波面评价。体积紧凑，可嵌入设备内部做在线检测。由日本工厂生产，华中地区可协助集成方案对接。

日本PWS-1000高速波面传感器波面像差光学日本PWS-1000高速波面传感器波面像差光学

这款波面传感器，采用微透镜阵列分光方式，可实时读取波面的相位起伏。动态范围大，能测传统干涉方式难以处理的大像差。波长覆盖从深紫外到短波红外的多个区间，可用于透镜与镜面的透射、反射波面评价。体积紧凑，可嵌入设备内部做在线检测。由日本工厂生产，华中地区可协助集成方案对接。

产品介绍

产品细节图本体为方形金属壳体，前端为入射窗口，内部为微透镜阵列与图像传感元件。壳体侧面为数据接口与电源接口，可通过线缆连接上位机。整体外形规整，四角设安装孔，可固定在光学平台的支架上，也可装进设备内部作为检测单元。前端可加装衰减片与滤光件，按被测光强调整入射条件。线缆为屏蔽线，走线后不干扰光路。

产品性能入射光经微透镜阵列分割成多个子孔径，由图像传感器记录各子孔径的光斑偏移，再换算为波面的斜率分布，进而重建波面形状。单次取像即可得到整个视场的波面数据，没有机械扫描，取像速度快，适合动态过程观察。对光源相干性没有严格要求，普通光源也可测量，不限于单色激光。动态范围大，大像差样品也能在一次测量中落入量程，不必反复调焦。与干涉方式比对，读数趋势一致，可作为产线快速判定的手段。

用材壳体为金属材质，刚性好，长期使用不变形；入射窗口为光学级材料，镀膜后降低反射损失；微透镜阵列为精密光学件，装配后位置固定；图像传感元件经筛选，暗电流小；接口为锁紧式，振动环境下不松脱。

参数表

表格

型号PWS-1000 为该系列标准传感器，按适用波长分为不同版本，选配不同的滤光与衰减件。选型时确认被测光源的波长、光强范围、需要测量的口径与像差量级，据此确定版本与前端附件。

用途透镜与镜面波面评价、光拾取与打印光学部件的对位检测、激光光源波面质量监控、光学元件来料抽检、设备内部的在线波面监测、研发阶段的光学系统调校。

包装原厂防静电包装，本体套防静电袋并加缓冲泡棉，入射窗口贴保护膜。数据线、电源附件、说明书与出厂检测记录分袋放置。

使用说明安装时保证入射窗口正对光路，避免斜入射带来额外误差。按被测光强选配衰减件，过强会饱和，过弱则信噪比不足。接好数据线与上位机，先做空载基准采集，再放入被测件。测量前清洁窗口，指纹与粉尘会直接影响读数。长期不用盖上保护盖，存放于干燥环境。

售后服务整机质保 12 个月，窗口片与线缆属易损件不在质保范围。可协助集成方案与上位机对接；窗口附件、线缆等可单独补配，支持后续校准服务。