描述：日本leimac IHVE-21IR-1100红外照明装置这款同轴红外点光源，峰值波长一千一百纳米，适配短波红外检测。发光均匀，功耗可控，适合硅基晶圆图案对位、材料瑕疵检查，可搭配远心镜头使用，我司可配套推荐驱动控制器。

日本leimac IHVE-21IR-1100红外照明装置日本leimac IHVE-21IR-1100红外照明装置

这款同轴红外点光源，峰值波长一千一百纳米，适配短波红外检测。发光均匀，功耗可控，适合硅基晶圆图案对位、材料瑕疵检查，可搭配远心镜头使用，我司可配套推荐驱动控制器。

产品介绍产品细节图整机为紧凑型同轴结构，外壳采用黑色阳极氧化铝合金，光路内置专用透镜组，出光端结构紧凑，便于嵌入狭小的视觉工位。尾部引出屏蔽信号线，配套标准接头，可搭配原厂恒流控制器；整套单品包含光源本体；可选配延长线缆、恒流驱动、固定支架；闲置时盖上出光保护盖，避免灰尘附着在光学镜片表面。产品性能采用专用红外 LED 芯片，搭配定制光学透镜，输出光束集中度良好，热衰减控制平稳；工作区间温度稳定，长时间点亮亮度漂移小，适合连续在线检测。该波长对硅材料具备穿透特性，常用于晶圆内部图案、裂纹、异物检查，也可用于高分子材料、薄膜的红外成像检测。光源支持恒定电流驱动，亮度可以分级调节，适配不同检测场景的曝光需求。用材壳体为阳极氧化铝合金；光学镜片为光学玻璃；LED 发光芯片；信号线外层耐磨屏蔽护套；密封件耐老化。

表格

型号同系列还有多种波长版本，覆盖紫外、可见光、其他红外波段；IHVE‑21IR‑1100 专门针对短波红外检测。用途半导体晶圆对位与缺陷检查、薄膜红外透视检测、材料内部异物筛查、机器视觉短波红外成像。

包装独立防静电纸盒，内衬缓冲泡棉，附带规格图纸。使用说明接入匹配的恒流控制器，不要直接接入稳压电源；避免直视出光口；定期使用无尘布清洁镜片；工作环境控制在非凝露湿度区间。