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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本thanko 自动倍率识别显微镜
偏光观测设计
内置可调线性偏光镜,可有效抑制金属、塑料、珠宝等高反光表面的眩光与反射,清晰呈现表面纹理、划痕及细微缺陷,解决普通显微镜观测反光物体时画面泛白、细节丢失的问题。
AMR 自动倍率识别
搭载自动倍率识别技术,连接电脑软件后可自动检测并显示当前放大倍数,测量时无需手动换算,数据可自动同步存储至图像,大幅提升检测效率与测量精度,避免人工读数误差。
宽范围无级放大
支持 20 倍至 220 倍连续无级变焦,可灵活切换低倍全景观测与高倍细节放大,适配从宏观外观到微观缺陷的全维度检测需求。
高清成像与稳定照明
配备高清成像传感器,成像清晰锐利、色彩还原真实;内置 8 颗高亮白光 LED,亮度均匀可调,即使在弱光环境下也能提供充足照明,保障观测画面稳定明亮。
便携易集成
机身小巧轻便,单手即可握持操作,适配狭窄空间检测;USB2.0 接口即插即用,无需额外电源,兼容 Windows、Mac 系统,可直接对接电脑进行实时观测、拍照、录像及尺寸测量。
可拆卸前盖设计
前端保护盖可拆换,适配不同观测场景,同时便于日常清洁与维护,延长设备使用寿命。
产品类型:手持 USB 数码显微镜
品牌:THANKO(日本)
系列:DINO-LITE Edge
型号:AM4515ZT
核心功能:偏光功能、AMR 自动倍率识别
放大范围:20-220 倍(无级变焦)
照明方式:内置可调白光 LED
连接方式:USB2.0
兼容系统:Windows、Mac
机身材质:复合材质
尺寸:小巧便携规格
重量:轻便设计
工业制造:电子元件、PCB 电路板、精密五金件的表面缺陷检测、划痕观测、尺寸测量。
精密加工:机械零件、刀具、模具的微观纹理检查、磨损分析、装配校准。
珠宝首饰:钻石、玉石、贵金属的内部瑕疵、纹理鉴定,表面抛光质量检测。
其他领域:印刷品网点检查、纺织品纤维观测、文物修复细节记录、头皮 / 皮肤检测等。
通过 USB 线将显微镜与电脑连接,系统自动识别设备并安装驱动。
打开配套观测软件(DinoCapture2.0),启动设备,调节 LED 亮度至合适效果。
手持显微镜对准观测物体,旋转变焦环调整放大倍数,通过软件查看实时成像。
观测过程中可一键拍照、录像,利用软件测量工具完成尺寸标注与数据记录。
使用完毕后,关闭软件与设备,断开 USB 连接,清洁镜头后妥善收纳。
避免镜头直接接触尖锐物体或腐蚀性液体,防止镜头刮花或损坏。
定期用软布擦拭镜头表面,保持清洁,避免灰尘影响成像清晰度。
避免机身剧烈撞击或摔落,防止内部光学元件移位、损坏。
长期不用时,将设备存放于干燥通风处,避免潮湿环境导致部件老化。
请勿自行拆解机身,出现故障请联系专业售后人员检修。
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