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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本Intechno 实时落尘粒子沉积监测仪
检测原理:406nm 5mW 激光全息衍射,傅里叶变换粒径解析
测量粒径范围:15μm ~ 1000μm
最小测量间隔:5 分钟(有线联网模式)
沉积采样面积:标准 50cm² 载片区域
耗材结构:内置 6 片滑动载玻片一体式卡盒,长效免频繁更换
执行标准:ISO14644-3、ISO14644-17 洁净室落尘检测规范
数据功能:自动记录时间、颗粒总数、粒径分布,生成时序曲线图
通讯方式:有线以太网,支持云端远程查看、批量导出数据
工作环境:温度 10~35℃,湿度 10~90% RH(无凝露)
整机重量:5.0kg(含内置备用电池)
机身形态:紧凑型台式一体化主机,可就近放置产线操作台
日本Intechno 实时落尘粒子沉积监测仪
针对性监测沉降宏观大颗粒,弥补普通尘埃粒子计仅测悬浮颗粒的缺陷,直接预判产品表面附着污染风险。
激光全息高精度成像,可区分不同粒径污染物,快速判定污染源来自人体皮屑、洁净服纤维还是设备碎屑。
5 分钟高频自动扫描 + 24 小时连续监测,精准捕捉瞬时发尘峰值,对比人员操作时段快速优化洁净管控流程。
六联滑动载片卡盒长效耗材设计,减少频繁更换耗材带来的车间二次污染,降低运维人工成本。
整机符合国际 ISO 洁净室落尘标准,监测数据可直接用于 GMP、半导体工厂出厂验收、第三方检测报告。
有线云端组网功能,多车间、多台设备数据统一汇总,远程实时查看洁净室动态污染状态。
时序可视化曲线输出,无需人工逐条记录,直观对比早晚、换班、清洁前后落尘量变化,改善方案效果可量化验证。
紧凑型台面机身,可直接放置机台旁近距离监测局部落尘,无检测盲区,精准定位单点发尘源头。
半导体芯片、晶圆封装无尘车间:实时监控落尘颗粒,减少芯片表面颗粒附着造成短路、外观不良。
制药 GMP 无菌厂房、注射剂灌装车间:长期留存落尘监测记录,满足药监洁净度审计要求。
光学镜头、精密显示模组组装产线:管控皮屑、纤维大颗粒,避免镜片镀膜、面板划伤缺陷。
新能源锂电池、电芯无尘车间:监测宏观落尘,预防颗粒混入极片引发安全隐患。
医疗器械无菌装配车间:量化人员走动、洁净服发尘量,优化车间人员动线管理规范。
第三方洁净室检测机构:依据 ISO14644-17 开展落尘沉积率标准化检测,出具合规原始数据。
精密机械、航空零部件超净加工车间:验证清洁流程、车间改造后的洁净度改善效果。
高校材料、洁净环境实验室:落尘污染原理教学,不同洁净方案对比科研试验。
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