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日本白光HAKKO 手持式双模式静电测试仪

描述:日本白光HAKKO 手持式双模式静电测试仪
FG450 是 HAKKO 推出手持便携静电检测设备,采用振动电容感应原理,全程非接触采集物体表面静电电位,兼顾工件带电检测与离子风机平衡性能校验两类需求。探头支持 180° 分段旋转,狭小腔体、设备内部不易观测点位均可对准测量;机身内置两种测量程序,常规模式检测塑胶、板材、电子工件表面静电,离子平衡模式搭配配套测板,精准读取除静电设备输出平衡电压。

  • 产品型号:FG450
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-29
  • 访问量:82
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本白光HAKKO 手持式双模式静电测试仪

基础规格参数

  • 型号:FG450(HAKKO 手持式振动电容静电测试仪)

  • 检测原理:振动式截波电容感应法

  • 测量距离:标准 25mm(红色光点定位)

  • 测量量程与分辨率

    常规静电模式:0.00~±19.99kV,分度 0.01kV

    离子平衡模式:0.000~±1.999kV,分度 0.001kV

  • 测量精度:显示值 ±(10% 读数 ±2 位数)

  • 探头结构:45° 一档,180° 分段旋转卡位

  • 显示更新速率:0.5 秒

  • 操作功能:电源、模式切换、HOLD 锁定、MAX 峰值捕捉

  • 供电:DC9V 006P 方形碱性干电池

  • 连续续航:约 10 小时

  • 整机重量:约 180g

  • 工作环境:0~40℃,20~80% RH 无结露,无强腐蚀气体

  • 标配工装:离子平衡测量板、接地导线、便携收纳箱

日本白光HAKKO 手持式双模式静电测试仪

核心功能特点

  1. 双测量模式,工件静电与离子风机性能一设备完成

    常规模式测卷材、PCB、塑胶件表面带电电压;切换离子平衡模式,搭配标配测量板,校验离子风输出正负偏移,同步管控工件静电与除静电设备工况。

  2. 180° 分段旋转探头,复杂狭小工位适配

    探头每 45 度一档卡位旋转,设备腔体、模具深腔、产线夹层等视线遮挡区域,可调整探头角度对准测点,无需挪动工件即可完成采集。

  3. 红色光点定位,统一 25mm 标准测量距离

    前端投射红点标记基准测距位置,操作人员无需反复比对距离,避免远近偏差造成读数波动,多班组、多时段测量数值一致性稳定。

  4. HOLD 锁定 + MAX 峰值双存储功能

    HOLD 按键固定瞬时读数,狭小测点测量后可移开设备查看数据;MAX 模式自动捕捉检测区间最高静电峰值,适合卷材摩擦起电波动工况筛查。

  5. 双档高精度分辨率,高低电压分段适配

    工件静电量程 0.00~±19.99kV,最小分度 0.01kV;离子平衡量程 0.000~±1.999kV,分度 0.001kV,弱平衡偏移、高带电工件均可精准区分。

  6. 振动电容感应,非接触无损检测敏感元器件

    无需接触被测表面,不会转移电荷、划伤晶圆、PCB 精密线路,半导体、超薄薄膜、精密电子件检测无损伤风险。

  7. 单节 9V 电池长效续航,外勤巡检无需外接电源

    碱性干电池满电可连续运行约 10 小时,厂区跨车间、外协上门巡检无需拖拽电源线,轻量化机身长时间手持轻松。

  8. 完整配套组件,开箱即可开展离子平衡校验

    出厂附带离子平衡测量板、接地导线、便携收纳箱,无需额外采购工装,开箱可直接完成离子风机定期校验作业。

五、适用检测场景

  1. SMT 电子组装车间 ESD 日常巡检

    PCB 电路板、连接器、塑胶外壳带电电位抽检,监控产线静电积累,规避芯片静电击穿不良。

  2. 薄膜、卷材注塑成型工序监测

    塑胶薄膜、包装卷材收卷摩擦起电检测,捕捉峰值静电,调整除静电风机安装位置与功率。

  3. 半导体晶圆、芯片加工工位管控

    非接触式检测晶圆表面带电,不损伤精密晶片,匹配无尘车间静电管控规范。

  4. 离子风机、除静电设备定期性能校验

    搭配离子平衡板检测风机输出偏移电压,判定除静电设备是否需要清洁、更换配件。

  5. 塑胶、注塑模具内部静电筛查

    模具深腔狭小区域旋转探头伸入测量,排查脱模、合模过程产生的静电吸附粉尘问题。

  6. 人体带电电位现场检测

    搭配可选人体测电辅板,检测操作人员衣物、身体携带静电,配套 ESD 穿戴规范验证。

  7. 第三方静电防护外勤检测

    上门为工厂开展产线静电全面排查,便携箱体收纳,跨厂区巡回检测便捷。

  8. 材料、理化实验室对比试验

    不同材质、环境湿度下静电积累对比测试,留存峰值、实时数值支撑试验数据记录。

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