欢迎来到津越工业设备(武汉)有限公司！

18771980172

产品展示/ PRODUCTS PLAY

我的位置：首页  >  产品展示  >  计量仪表  >  检测器  >  日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备

产品分类 / PRODUCT

查看全部产品

相关文章 / ARTICLE

日本 AND 爱安德 AD-4405A 多功能称重显示控制器 简介2026-07-03
日本 KEM DA-130N 手持式密度计技术深度解析2026-04-22
日本本多HONDA W-357-1MQG-SKC 高频石英振动体超声波清洗机 简介2026-06-10
日本 TANAKA 田中电气 DDM-2001 烟道光散射式在线粉尘浓度计 简介2026-07-14
日本世光Sekonic C-7000 色度光度计 简介2026-06-08

日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备

描述：日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备
本设备为日本 bunkoukeiki 分光计器CLP-400透镜型高感度分光器，专为可见光区间微弱光源、多点光纤光谱采集研发。采用校正像差专用透镜光路，大孔径光路透光性强，适配荧光、微弱发光试样检测，可搭载多根光纤实现多点同步分光测定，可选配 CCD 探测器完成光谱图像采集，波长调节直观精准。

  • 产品型号：CLP-400
  • 厂商性质：代理商
  • 更新时间：2026-07-17
  • 访问量：58
产品咨询 联系我们
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备

基础核心参数

  1. 工作原理：校正像差透镜光路分光分离可见光，光纤导入待测光源，光栅拆分不同波长光线，搭配波长刻度盘读取光谱数值，可选 CCD 探测器采集完整光谱曲线，完成微弱光、多点试样分光检测

  2. 完整型号区分

    • CLP-400：标准 400mm 焦距可见光透镜分光器

    • CLP 系列短焦款：100/200/300mm 焦距，适配小型实验

    • CLP 紫外近红外款：拓展波段，适配多区间光谱测试

  3. 光学结构：低像差透镜式专用光路

  4. 焦距规格：400mm 标准焦距

  5. 孔径比值：F2.8 大孔径，透光效率高

  6. 适用波段：400~700nm 可见光区间

  7. 采集配置：支持最多 50 路光纤多点同步测定

  8. 拓展配件：预留 CCD 探测器、滤光片安装支架

  9. 调节部件：手动波长刻度盘、数值计数器精准调段

  10. 整机结构：台式一体化金属机身，台面放置

  11. 供电规格：交流工业市电供电

  12. 使用环境：恒温无尘光学实验室，无强杂光干扰工况

日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备

核心功能特点

  1. F2.8 大孔径明亮光路，微弱光源也可稳定采集光谱信号

  2. 低像差透镜光学设计，相比普通镜面分光器空间分辨更佳

  3. 支持多路光纤同时接入，实现多点试样同步分光检测

  4. 标配波长刻度与数字计数器，波长读取直观精准

  5. 预留滤光片、CCD 探测器拓展位，适配荧光、成像光谱实验

  6. 光路密封性良好，降低外界杂光对检测结果的干扰

  7. 台式紧凑机身，拆装光纤、更换配件操作简单便捷

  8. 长时间连续检测稳定，适合长周期荧光、发光材料实验

适用场景

  1. 光电材料研发：荧光材料、发光器件微弱光谱性能检测

  2. 光学基础实验：可见光区间多点同步分光对比测定

  3. 显示器件评测：屏幕、发光像素光谱分布分析实验

  4. 微观光学检测：搭配显微镜完成微区试样光谱采集

  5. 高校光电实验室、第三方光学检测机构实验标定验收

留言询价/ MESSAGE INQUIRY

留言框

  • 产品：

  • 您的单位：

  • 您的姓名：

  • 联系电话：

  • 常用邮箱：

  • 省份：

  • 详细地址：

  • 补充说明：

  • 验证码：

    请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

拿起手机扫一扫
地址：湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道特1号国际企业中心三期3栋3层07号F394
邮箱：18771980172@163.com
联系人：李经理

Copyright © 2026津越工业设备(武汉)有限公司 All Rights Reserved    备案号：鄂ICP备2026021557号-1

技术支持：化工仪器网    管理登录    sitemap.xml