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HPGe美国ortec 平面高纯锗辐射探测器美国ortec 平面高纯锗辐射探测器本产品为美国 ortec 高性能高纯锗 HPGe 平面辐射探测器，面向核安全保障、非破坏性分析（NDA）场景开发，主要完成各类核材料样品伽马射线采集，用于同位素比值解析，无需对样品做化学前处理，直接完成样品无损检测。晶体可选择多种有效尺寸，配套多类型低温恒温杜瓦，包含多方位便携杜瓦选项，兼顾实验室固定工位与现场移动检测需求。

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更新日期
2026-08-10

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TO‑5DP日本三高SANKO 超薄绝缘膜针孔探测器日本三高SANKO 超薄绝缘膜针孔探测器本产品为日本山高电子研究所出品的针孔探测成套设备，专门面向各类超薄绝缘涂层与薄膜开展缺陷检查，采用低功率直流高压放电的检测方式，可识别涂层内部微小针孔、漏涂以及细微裂隙缺陷。整套设备由台式主机、可伸缩探杆、黄铜电刷电极、安全遥控开关以及各类连接线组成，工件导电基底接好地线之后，电刷电极在膜层表面匀速扫过，遇到孔隙缺陷就会触发光声报警。

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更新日期
2026-08-06

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S-3770日本somaopt 波长可变紫外可见分光检测器日本somaopt 波长可变紫外可见分光检测器本设备为日本 SOMAOPT 相马光学 S-3770 波长可变紫外可见分光检测器，依托单色器分光系统与氘灯光源，测定液相样品紫外 - 可见光区域吸光度，用于液相色谱组分分析、制备色谱分取、反应体系在线监测。波长区间覆盖 195nm～600nm，可数字精准设定目标波长；标配多款流通池，兼顾微量分析与大量样品制备分取场景。

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更新日期
2026-07-22

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35
CLP-400日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备日本bunkoukeiki 透镜型分光光谱检测设备本设备为日本 bunkoukeiki 分光计器CLP-400透镜型高感度分光器，专为可见光区间微弱光源、多点光纤光谱采集研发。采用校正像差专用透镜光路，大孔径光路透光性强，适配荧光、微弱发光试样检测，可搭载多根光纤实现多点同步分光测定，可选配 CCD 探测器完成光谱图像采集，波长调节直观精准。

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更新日期
2026-07-17

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75
RC-50日本l-prom 自由落体式管道金属检探测器日本l-prom 自由落体式管道金属检探测器本设备为 L-PROM 立式自由落体管道型金属检测剔除一体机，垂直串联安装于挤出造粒、粉体包装、颗粒下料管道中段，物料依靠自重垂直下落穿过检测通道，双交变磁场线圈同步识别铁、不锈钢、铜铝等全部金属杂质，检出异物后高速气动翻板快速分流剔除含杂物料，洁净物料正常直通下料。

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更新日期
2026-07-14

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代理商

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