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2026-07-13
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本春日KASUGA 数字低电位静电测试仪
工作原理：振动电容式非接触电位传感，感应被测物体表面静电电势，数字化演算电位数值；设备存储测量记录，导出报表用于防静电工艺复盘。
传感方式：振动型表面电位传感器
测量量程
HIGH 档：±1V～±5000V
LOW 档：±0.1V～±500V
测量基准距离：10mm
测量精度：±10% 以内
工作模式：连续测量 / 峰值保持
数据存储：最多保存 20 组测量数据
模拟输出：0～±500mV（仅 HIGH 量程可用）
供电方式：2 节 5 号干电池；可选配 AC 外接电源适配器
整机尺寸：主机 121×70×22mm；探头 φ18×117mm
整机重量：约 230g（含探头）
使用环境：0～40℃，湿度≤65% RH 无凝露，半导体车间、光电产线、元器件质检工位
支持 0.1V 极低电位检测，捕捉容易诱发芯片失效的微弱静电，适配现代精密器件 ESD 管控。
分体式独立探头，狭小空间、元器件缝隙、模组内腔均可灵活伸入测量。
双量程自由切换，兼顾微小带电检测与常规高电位静电巡检，一机多用。
峰值保持功能，快速抓取瞬时最高电位，适合动态工况静电风险评估。
内置传感器自检诊断，探头异常自动提示，避免无效测量造成误判。
电池供电便携巡检，选配适配器可长时间固定工位持续监测。
模拟信号输出接口，可外接记录仪，连续记录电位波动趋势。
自带自动休眠，防止遗忘关机消耗电量，适合现场多点巡回检测。
测量区域集中，可针对小型 IC、元器件局部点位精准测量。
完整静电检测台账留存，电位测试记录可回溯，防静电体系审核项目可直接调取管控记录。
半导体电子行业：芯片、晶圆、封装元器件表面微弱带电电位检测。
光电显示工位：光学膜片、镜头、背光模组静电分布巡检。
PCB 制造领域：线路板各工序带电测试、离子平衡效果验证。
新能源行业：锂电膜材、电池模组防静电效果评估。
静电设备校验：离子风机、离子棒除静电性能验收调试。
第三方 ESD 检测机构、高校电子实验室静电研究测量。
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