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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本SHIMADZU 高分辨调频式扫描探针显微镜
工作原理:FM 调频原子力探测方式,捕捉探针与样品间作用力变化,转化获得表面三维形貌与各类微区物理信号;设备存储扫描方案,导出图像数据用于材料机理工艺复盘。
型号:SPM-8100FM
核心技术:FM-AFM 调频非接触检测模式
运行环境:大气环境、液相溶液环境均可开展高分辨观测
机械结构:滑动式 SPM 机头,换样保持激光光路稳定
扫描单元:HT 压电扫描器,支持大范围快速扫描成像
拓展功能:可搭载 KPFM 开尔文探针力显微、微区电流检测、磁力力显微等模式
特色能力:实现固液界面水化层、溶剂化层微观结构原位观测
控制系统:双屏操作终端,多通道信号实时监测与同步采集
使用环境:恒温减震实验室区间,湿度无凝露,新材料、催化、生物界面科研表征工位
创新 FM 调频检测方案,有效抑制大气与液体环境噪声,在常压、液相条件获得接近真空型设备的超高成像分辨率。
滑动式机头机构优势显著,样品更换后无需重新调校激光光路,缩短批次样品切换耗时,提升实验效率。
HT 高性能扫描器兼顾观测视野与扫描速率,大范围粗扫定位后可直接切换小区域高分辨精细成像。
支持固液界面原位观测,能够捕捉传统 AFM 难以观测的界面液体分层结构,适合电化学、生物界面课题研究。
模块化功能拓展体系,按需增加表面电势、微区导电、磁力成像模块,一台设备实现多维度物性同步表征。
ZXY 三维立体扫描采集功能,可获取三维空间作用力分布,适合凹凸形貌复合材料、多孔电极样品测试。
双屏可视化操控系统,实时同步观测光学视野与探针扫描信号,便于快速定位目标观测区域。
光学同轴落射照明系统,精准观察探针位置与样品表面,防止探针撞击损伤试样与针尖。
配套专业图像分析软件,支持形貌重构、粗糙度统计、电势分布、三维数据解析与结果导出。
完整材料科研质控台账留存,原始扫描图像可回溯,催化机理研究、电极界面分析、薄膜性能表征验收项目可直接调取管控记录。
新能源行业:固态电池电极、各类储能材料微观形貌、界面电荷分布原位表征。
催化研发工位:贵金属催化剂、氧化物载体纳米颗粒观测,表面电势差异成像分析。
高分子材料领域:聚合物薄膜、自组装膜、凝胶材料表面微观结构研究。
生物界面研究:生物大分子、细胞膜、水合生物试样液相环境原位高分辨观测。
半导体行业:外延薄膜、二维材料表面缺陷、微观电学特性扫描表征。
高校科研平台:界面化学、纳米摩擦学、胶体与固液相互作用基础课题研究。
新材料研发中心与表面分析实验室,大气液相配套高分辨调频原子力表征设备。
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