描述：日本eishinkagaku 自走式超声波探伤扫描仪
本产品为日本 eishinkagaku FEK‑3 全自动超声波探伤仪，属于小型自走式通用超声扫描系统，将超声探伤主机与可移动自走扫描机构集成一体，无需人工手持探头往复移动，设备可沿工件表面自主行走完成扫查作业。可以实现 A 扫波形采集以及 C‑scan 面成像测绘，直观展示工件内部缺陷位置、大小分布，规避人工扫查带来的漏检、扫查轨迹偏移问题。

基础核心参数

1. 型号：fek‑3

2. 设备类型：自走式全自动超声波探伤扫描仪

3. 品牌：eishinkagaku（日本）

4. 作业对象：各类金属板材、焊接焊缝、试验试样，开展内部裂纹、气孔、夹渣等缺陷无损检测；用于实验室试样评估、工厂工件质检、现场构件探伤

5. 工作方式：自走式自动扫查；A‑scan 波形、C‑scan 成像检测；内置位置编码器记录扫查轨迹；可适配多款常规超声探头；自动行走完成面扫查，数据存储，支持数据导出；可设定扫查范围、行走速度

6. 输出形式：本机输出 A 扫波形、C 扫成像图；存储探伤数据，可导出数据文件，用于缺陷分析与探伤报告制作

7. 安装形式：可移动整机，自带行走机构，放置被测工件表面自主扫查，可搬运至实验室或现场工位使用

8. 工作环境：实验室、工厂车间现场；工件表面尽量平整，做好耦合处理；避开强磁场、大量粉尘、剧烈震动环境

9. 可选配置：各类超声探头、耦合辅件、计量校准证书另行选配

10. 标配配件：FEK‑3 主机、控制线缆、操作手册；探头、耦合耗材另行选配

日本eishinkagaku 自走式超声波探伤扫描仪

核心功能特点

1. 自走行走扫查机构，探头自动移动，不用人工手持来回扫查，扫查轨迹均匀稳定，降低人为操作带来漏检风险。

2. 支持 A 扫波形与 C‑scan 面成像，直观呈现工件内部缺陷分布，缺陷的位置、范围可以可视化展示。

3. 内置位置编码，实时记录探头坐标，缺陷图像与工件实际位置一一对应，方便后期定位缺陷。

4. 小型轻量化整机，搬运方便，实验室做试样检测，也可搬运到生产现场开展构件探伤作业。

5. 可适配多种超声探头，根据板材厚度、检测目标更换探头，覆盖多类金属工件探伤需求。

6. 扫查区间、行走速度可设置，适配不同样品尺寸，兼顾小试样与较大尺寸平板工件。

7. 探伤数据可保存导出，便于复盘分析，也可直接用于生成无损检测报告。

8. 一体化设计，扫描机构与探伤单元集成，减少外设组件，现场布置调试便捷。

适用场景

1. 材料实验室，金属试样、试验板材内部缺陷评价，科研试样无损检测。

2. 机械制造工厂，板材、焊接焊缝自动探伤，批量工件内部缺陷筛查。

3. 无损检测研发，工艺比对试验，对比不同焊接工艺内部缺陷情况。

4. 零部件质检，平板类构件出厂检测，识别内部气孔、夹渣、裂纹类缺陷。

5. 现场检测工况，设备可搬运至工位，对大型平板构件开展自动扫查。

6. 需要规避人工扫查不一致，对扫查轨迹重复性有要求的无损检测工作。