描述：日本orc 紫外线曝光控制照度计
工业型紫外线测量控制设备，可采集紫外照度与累积光量，达到设定曝光条件时输出控制信号，直接联动管控紫外照射设备。分为台式与设备嵌入两种机型，探头支持更换，面板功能齐全，可用于光刻、固化等工艺的在线测控，保障紫外加工工艺稳定性。

日本orc 紫外线曝光控制照度计

核心参数

• 配套受光器：UV‑SD35、UV‑SN35，可更换不同波段探头

• 测量波长：310‑385nm

• 照度测量范围：0.01‑10.00mW/cm²、0.1‑50.0mW/cm² 两档切换

• 光量测量范围：0.01‑999.9mJ/cm²

• 计时测量范围：0.01‑999.9s

• 测量精度：对标原厂紫外标准源 ±2% 以内，重复性 ±2% 以内

• 光量预设：支持 10 组光量参数存储设定

• 信号端口：D‑sub 连接器；远程启停输入，继电器触点输出、报警输出；RS232 通讯接口

• 机型区分：UV‑M10‑S 台式；UV‑M10‑P 设备嵌入安装型

• 供电：AC85‑264V 宽电压交流供电

• 工作环境：0‑40℃，湿度 80% RH 以内，无凝露

日本orc 紫外线曝光控制照度计

功能特点

1. 光量达标输出继电器控制信号，可直接控制快门、UV 光源，实现曝光闭环自动控制。

2. 同时具备照度测量、累积光量积分、计时测量，测量过程可切换显示照度、时间数据。

3. 内置十组参数记忆存储，不同工艺条件可快速调用，适配多品种换产。

4. 两种机身形态，台式适合操作台使用，嵌入机型可直接集成到设备控制柜内部。

5. 受光探头可更换，可匹配不同波长紫外光源，适配光刻、固化多种工况。

6. 支持远程启停信号接入，方便接入产线 PLC 系统实现整套自动化流程。

7. 具备报警输出，异常状态可以对外输出告警信号，便于工艺异常监控。

8. 支持通讯接口输出测量数据，便于记录、追溯生产工艺数据。

9. 数字面板显示，参数输入操作直观，现场调试设置便捷。

10. 工业整机设计，可长期连续运行，适配车间产线不间断生产。

适用场景

1. PCB 线路板曝光工序，紫外曝光量测控与设备联动控制。

2. 半导体、液晶基板光刻工艺，紫外光量在线监测管控。

3. 各类 UV 固化产线，固化光能量监控，保障固化工艺一致性。

4. 实验室紫外照射设备，做定量曝光的自动控制。

5. 光学、电子行业，紫外工艺设备整机集成配套。

6. 光刻、光化学反应设备，设定目标光量自动停止照射。

7. 产线工艺验证，紫外照度、累积能量检测与记录。

8. 紫外设备定期点检，灯管老化状态光强评估。