描述：日本dia 手持式阵列涡流探伤仪
手持式涡流缺陷探测设备，无需耦合剂即可完成导电材料表面与近表层缺陷探查，支持常规涡流以及阵列涡流检测模式。仪器配备触控显示屏，可直观查看成像与波形数据，可完成裂纹缺陷探测、材料电导率判定、非导电涂层厚度测量。整机机身小巧密封防护，便于外出巡检作业，大容量本地存储保存检测记录，适配车间、户外工地等多场景无损检测工作。

日本dia 手持式阵列涡流探伤仪

核心参数

• 产品型号：MIZ‑21C

• 产品类型：涡流缺陷探测器

• 工作频率：5Hz‑10MHz

• 接收增益：10‑123dB

• 数据分辨率：16 位

• 显示屏：5.7 英寸多点触控彩色液晶屏，480×640 像素

• 操作方式：触摸屏 + 实体按键

• 通道配置：支持常规涡流、阵列涡流检测

• 电导率测量范围：0.5‑70MS/m（0.9‑110% IACS）

• 非导电涂层测量范围：0‑1000μm

• 数据存储：128GB 内置存储

• 通讯接口：USB2.0、WIFI、蓝牙

• 外形尺寸：267×122×38mm

• 整机重量：1.2kg（含电池）

• 供电：可充电锂电池，单次连续工作最长 10h

• 工作环境温度：‑10℃~50℃，湿度≤95% RH 无冷凝

• 防护等级：整机密封防尘抗冲击

日本dia 手持式阵列涡流探伤仪

功能特点

1. 涡流无损检测，无需耦合剂，对导电工件开展检测，识别表面以及近表层疲劳裂纹、磕碰损伤、腐蚀缺陷。

2. 兼容常规探头与阵列探头，阵列扫描覆盖范围更大，大面积构件检测可有效提升检测效率。

3. 集成多项测量功能，除缺陷探伤之外，还可以完成金属电导率分选、非导电涂层厚度测量，实现一机多用。

4. 探头自动识别，接入带芯片探头自动加载对应参数，减少人工设置步骤，降低现场操作失误。

5. 高亮度触控屏幕搭配实体按键，强光工况可视，佩戴劳保手套也可以完成仪器各项操作。

6. 内置多种数字滤波模式，过滤现场环境干扰噪声，提升微小缺陷识别能力。

7. 多形式报警输出，矩形框、扇形、极坐标报警，搭配声音提示，降低漏检发生概率。

8. 整机密封结构，防尘抗冲击，适配工地、野外、机舱等复杂严苛的现场作业环境。

9. 大容量内置存储空间，保存 C 扫描成像、波形、检测参数，支持无线方式完成数据传输。 

适用场景

1. 航空航天零部件检测，铝制构件、紧固件孔位疲劳裂纹、层间腐蚀缺陷筛查。

2. 轨道交通零部件巡检，轨道、铜铝合金部件表面损伤、裂纹现场排查。

3. 石化、电力行业，换热构件、储罐、管道表面裂纹与腐蚀缺陷检测。

4. 搅拌摩擦焊、各类焊缝表面缺陷评估，识别焊接产生的微裂纹等损伤。

5. 机械加工零部件来料与成品检测，导电金属件表面缺陷批量筛查。

6. 特种设备运维检测，承压设备金属部件表面无损探伤作业。

7. 材料分选工作，依据电导率区分材质，辨别材料批次差异。

8. 涂层工件检测，测量基材上方非导电涂层厚度，把控涂层工艺品质。

9. 第三方检测机构现场外出检测，完成数据采集、存档留存原始记录。