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日本koueiinc 便携式半球发射率计

描述:日本koueiinc 便携式半球发射率计
日本 KO‑EI(興栄)PM‑E2 便携式半球发射率计,源自航天技术转化的分体便携检测仪器,用于常温状态下固体材料半球发射率定量检测。整机分为测量主机与手持操作单元,内置镀金积分球、黑体炉与热电堆检测器,无需大型落地设备,即可获取材料半球方向热辐射发射率数值。

  • 产品型号:PM-E2
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-08-28
  • 访问量:8
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本koueiinc 便携式半球发射率计

核心参数

  • 产品型号:PM‑E2

  • 测量项目:半球发射率 εH、半球入射半球反射率

  • 测量范围:0.05‑0.95

  • 波长范围:0.6‑42μm,覆盖 300K 黑体辐射 95% 能量

  • 测量不确定度:±0.03,再现性≤0.02

  • 单次测量时间:1‑3min

  • 测量窗口:φ10mm

  • 内部黑体炉温度:约 60℃(333K)

  • 积分球:φ30mm,内壁镀金处理

  • 检测器:热电堆传感器

  • 标准校准件:镀金镜面 ε=0.05、黑色 Kapton 薄膜 ε=0.85

  • 通讯接口:USB,支持电脑数据存储导出

  • 供电:DC12V 1A 适配器,兼容电池供电,支持现场便携使用

  • 尺寸重量:操作部 145×82×32mm,约 0.2kg;测量部 125×60×74mm,约 0.7kg

  • 工作环境:10‑45℃,湿度 50% RH 以内,避开强光强热源

日本koueiinc 便携式半球发射率计

功能特点

  1. 分体便携结构,测量单元体积小巧,既可以实验室台面使用,也可带到现场对大型构件局部表面检测。

  2. 常温无损检测,样品无需加热预处理,不会损伤薄膜、镀层、涂层等脆弱样品表面。

  3. 镀金小型积分球搭配热电堆检测器,可覆盖宽红外波段,贴近常温物体实际热辐射特征。

  4. 配备高低发射率标准校准样板,两点校准操作简单,长期使用漂移小,保障数据一致性。

  5. USB 数据输出,可连接电脑完成数据保存、记录溯源,方便实验报告整理。

  6. 整机无复杂调试流程,放置样品即可启动测试,1‑3 分钟输出完整测量结果,提升研发测试效率。

  7. 设备体量远小于大型落地积分球设备,降低采购与使用门槛,兼顾科研研发与来料品质管控。

适用场景

  1. 航天行业,卫星、飞行器热控涂层、隔热薄膜、基底材料半球发射率性能检测。

  2. 新能源领域,太阳能电池基板、吸热涂层、光伏背板热辐射性能评价。

  3. 涂料行业,隔热涂料、耐高温涂层、红外功能性涂层研发与来料质检。

  4. 材料研发,金属镀层、高分子薄膜、复合材料表面热辐射特性测试。

  5. 工业节能,管道保温材料、散热部件、高温设备表面发射率评估。

  6. 高校与科研院所,热物理、红外辐射传热相关课题实验表征。

  7. 新材料企业,配方迭代对比,快速筛选不同工艺样品的辐射性能。

  8. 来料入库检验,筛查涂层产品发射率指标是否符合设计要求。

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