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日本 union 光学工业精密显微物镜系列

描述:日本 union 光学工业精密显微物镜系列Union 光学显微物镜覆盖有限校正、无限校正两大体系,倍率 3X~100X,包含平场、复消色差、长工作距离、紫外专用物镜。产品具备低畸变、高分辨率特点,适配晶圆、精密零部件观测。搭配 HISOMET、DCM 系列测量显微镜使用,可完成非接触高度、段差测量,广泛用于半导体、精密加工件外观检测。

  • 产品型号:ZC/PLM/PLLWDM 系列
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-09-29
  • 访问量:16
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本 union 光学工业精密显微物镜系列日本 union 光学工业精密显微物镜系列

产品详情产品细节图可生成物镜实物特写、物镜安装在显微镜上装配图、光学剖面示意图,浅灰背景,展示镜头外观、螺纹接口、标识刻印。

产品性能采用专业光学设计,有效校正球差、色差,成像清晰度高。长工作距离型号可在不触碰样品前提下观测腔体内部工件。紫外专用物镜适配紫外波段观测,满足特殊材料检测。不同倍率物镜可互换,与同品牌显微镜系统兼容,成像稳定,适合长时间连续在线检测。

用材光学镜片采用高品质光学玻璃,部分型号使用石英镜片;镜筒采用精密加工铝合金,表面做防腐耐磨涂层;内部镜座、隔圈采用金属精密加工件。

参数表

表格

项目参数
型号ZC/PLM/PLLWDM 系列
放大倍率3X~100X
光学校正类型有限校正 / 无限校正
观测波段可见光、紫外可选
安装接口C 接口 / 显微镜标准接口

型号ZC、PLM、PLLWDM 等系列,覆盖短工作距离、长工作距离、紫外专用物镜。

用途半导体晶圆外观检测、精密机加工零件段差测量、IC 芯片检测、材料表面显微观测,适配 HISOMET、DCM 测量显微镜。

包装原厂防静电盒包装,内含物镜、防尘盖、说明书、出厂检测报告,内部海绵固定,防止镜片磕碰。

使用说明轻拿轻放,避免触碰镜片光学面,安装时对准螺纹平稳旋入。更换物镜避免大力扭转。使用完毕盖上防尘盖,存放于干燥避光环境。镜片脏污使用专用镜头纸擦拭,禁止普通纸巾擦拭。


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