描述：日本leimacIMAR-CTD印刷多位置环形视觉光源日本 Leimac 雷马克 IMAR-CTD 系列为半分割式多位置环形 LED 光源，专为外观、印刷缺陷视觉检测开发。单台光源可实现高角度至低角度多角度分区独立打光，可自由切换照射角度，无需更换光源。支持白、红、蓝多种发光波段，适配反光、凹凸工件。半圆弧分体结构，可用于完整环形光源无法安装的狭小空间。搭配图像软件做多角度图像合成，稳定检出划痕

日本leimacIMAR-CTD印刷多位置环形视觉光源日本leimacIMAR-CTD印刷多位置环形视觉光源

日本 Leimac 雷马克 IMAR-CTD 系列为半分割式多位置环形 LED 光源，专为外观、印刷缺陷视觉检测开发。单台光源可实现高角度至低角度多角度分区独立打光，可自由切换照射角度，无需更换光源。支持白、红、蓝多种发光波段，适配反光、凹凸工件。半圆弧分体结构，可用于完整环形光源无法安装的狭小空间。搭配图像软件做多角度图像合成，稳定检出划痕、脏污、印刷缺墨、字符模糊等缺陷，广泛应用于包装、薄膜、印刷品在线质检。

核心参数表

表格

产品详情产品细节图：光源为半圆弧分体结构，不是完整圆环，由弧形铝基座与高密度 LED 阵列组成，自带安装孔位，方便固定在相机支架周边。弧形内部配有匀光扩散板，使光线均匀输出；不同波段型号区分 LED 芯片。信号线缆从光源尾部引出，采用专用 SM 接头，可连接光源控制器，独立控制每个分区的亮灭与亮度。相比常规整环光源，半分割结构可避开工件、夹具干涉，在空间受限工位完成布光。

产品性能：多位置分区独立控制，可分别开启不同角度的 LED 分区，从低角度斜光到高角度直射光自由切换。斜光模式可凸显表面微小划痕、凹坑、颗粒脏污；高角度模式适合印刷字符、二维码、色块识别。多角度采集图像后通过软件合成，抑制工件反光造成的光晕干扰，稳定识别包装印刷缺墨、漏印、斑点等缺陷。自带匀光板，光照均匀度良好，无局部明暗突变，适配高速视觉检测。自然散热设计，无需风扇，无粉尘干扰，可用于洁净产线。

用材：光源底座采用铝合金材质，轻量化同时导热性好，快速导出 LED 热量；LED 基板选用工业 PCB 板，器件焊接稳定。前端扩散板采用高透光抗老化光学板材，均匀散射光线，降低反光。外部壳体做阳极氧化防锈处理；连接线缆采用耐弯折屏蔽线材，降低现场变频器、电机电磁干扰。

用途：印刷行业标签、包装袋、薄膜表面印刷缺陷检测；包装外观划痕、脏点、压痕、字符缺损检查；零部件凹凸表面外观检测；薄膜、盖板表面瑕疵识别。适合包装印刷产线、食品药品包装质检、材料薄膜外观检测、实验室视觉方案验证。

包装：原厂标准包装包含 IMAR-CTD 弧形光源本体、信号电缆、安装螺丝、产品说明书、出厂检测报告。防震泡沫内衬保护光学扩散板，防止运输刮伤。光源控制器为选配部件，单独采购。

使用说明：将光源固定在相机镜头周边，调整光源高度与照射角度，连接 DC12V 光源控制器。在视觉软件内设置不同分区通道，依次开启各分区光源采集图像，做多角度图像融合。调试时根据缺陷类型选择合适角度，低角度斜光优先用于凹凸瑕疵检测。避免光源超温运行，不要长时间遮挡发光面；保持扩散板表面洁净，粉尘污渍会影响光照均匀性。定期检查线缆接头，防止松动。