描述：日本 Kett 近红外透射大米品质组分分析计AN-830 是日本 Kett 科学研究所台式全自动近红外透射大米品质组分分析计，采用整粒无损检测，样品盒自动升降。单次检测约 40 秒，无需粉碎样品，可测定糙米、精米的水分、蛋白质、直链淀粉，同步输出大米品质评价值。内置多条标定通道，支持免洗米、高水分糙米、酒米检测。搭载触控屏幕，USB、RS232C 双数据输出，操作简单。适用于米厂、粮库、质检机构，

日本 Kett 近红外透射大米品质组分分析计日本 Kett 近红外透射大米品质组分分析计

AN-830 是日本 Kett 科学研究所台式全自动近红外透射大米品质组分分析计，采用整粒无损检测，样品盒自动升降。单次检测约 40 秒，无需粉碎样品，可测定糙米、精米的水分、蛋白质、直链淀粉，同步输出大米品质评价值。内置多条标定通道，支持免洗米、高水分糙米、酒米检测。搭载触控屏幕，USB、RS232C 双数据输出，操作简单。适用于米厂、粮库、质检机构，用于原粮收购、加工过程品质管控、大米品质评估。

产品介绍

产品细节图整机由近红外光学检测单元、光栅分光模组、样品自动升降台、样品杯、彩色触控显示屏、主控模块、数据通讯接口组成。台式结构，放置于质检实验室、粮检室内台面。设备上部配置样品仓，放入样品杯后，仪器自动驱动样品台进入光路，全自动完成测量，无需人工调节样品位置。机身正面触控面板，直观显示水分、蛋白质、直链淀粉、品质评价值。机身配备 USB 与 RS232C 通讯端口，可连接电脑、外置打印机存储与输出检测报告。样品杯拆装简单，清理残留米粒便捷，不同样品轮换测试时降低交叉干扰。光学腔体做避光密封设计，减少环境杂散光对光谱采集的干扰，保障测试稳定性。

产品性能采用近红外透射分光检测原理，光线穿透整粒大米，依靠光谱特征计算组分含量，样品无需粉碎，属于无损检测，测试后的样品可留存。单次测量时长约 40 秒，快速获取多项指标。内置 8 组标定通道，适配国产糙米、精米，选配通道支持高水分糙米、免洗米、酒米检测；可同步输出品质评价值，用于综合评估大米食用品质。光源采用钨卤素灯，理论寿命可达 20000 小时，长期使用衰减幅度小。采用 NMOS 光电二极管阵列检测器，光谱采集稳定，同批次样品测试重复性良好。内置曲线存储，4 成分 ×8 通道的曲线存储容量，支持用户微调校正曲线。具备断电保护，断电时保留内置标定曲线，避免数据丢失。设备自带自检功能，开机自动校验光路，异常状态提示报警，减少无效测试。

用材光学窗口采用高透光耐磨损光学玻璃，长期使用不易划伤。样品杯、样品仓接触粮食部分选用 SUS304 不锈钢，防锈，便于清理米粒残渣。整机外壳采用静电喷涂钢板，结构稳固，防尘抗污。光栅分光元件精密封装，降低温漂带来光谱偏移。触控屏为工业级液晶面板；内部电路板喷涂防潮防尘防护涂层，适应粮食检验室内常规温湿度环境。密封遮光垫圈选用耐老化橡胶，阻挡外部光线进入光学腔体。

参数表

表格

型号AN-830 为本款台式全自动透射型大米成分分析仪；同系列 AN-820 为上一代机型。外置热敏打印机、定制样品杯、专用校准样品套件属于选配。本机仅适用于指定品类大米，糯米、低直链淀粉米等特殊米种不在标准测量范围。

用途大米加工厂原料入库品质检验；粮食收购现场快速定级；稻米加工工序品质监控；成品大米出厂质量检测；粮食质检机构、农科院稻米品质研究；新品种水稻育种筛选；大米食味相关组分评估。

包装定制加固出口木箱，主机泡沫缓冲包裹，光学窗口、样品台单独防护，防止磕碰损伤光学元件。样品杯、配件分格存放。箱内附带原厂校准证书、操作维护手册，远洋运输做防震防潮处理，开箱检查光学窗口、触控屏幕无划痕破损。

使用说明将设备放置在避光平稳的台面，接通 AC100V 电源，开机等待仪器自检完成。取待测整粒大米样品装入样品杯，放入样品仓，在触控面板选择对应样品标定通道，启动测量。样品台自动进入检测光路，仪器采集光谱并计算组分数据，40 秒左右完成测试，屏幕直接显示各项指标，可保存或打印检测结果。测试结束，样品台自动弹出，取出样品杯，清空米粒，擦拭样品杯，再进行下一组样品测试。定期清理样品仓与光学窗口表面粉尘，避免米粒碎屑堆积。定期使用标准校准样品做曲线验证，保证测量准确度。仪器避免强光直射，保持室内环境稳定，减少温湿度剧烈波动。

售后服务我司提供到货开箱验收，协助设备就位、样品操作、曲线调取与操作培训。原厂质保期内，非人为损坏故障提供维修；样品杯、光源灯泡等耗材配件可单独订货。可提供粮食检测方案咨询，协助标定通道选型、样品测试流程搭建。