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日本JFE Advantech TI-70W化工超声波测厚仪

描述:日本JFE Advantech TI-70W化工超声波测厚仪TI-70W 是日本 JFE Advantech 宽量程非破坏超声波测厚仪,适用于实验室与化工行业,仅需单面接触即可完成厚度测量。测量范围 1.5~100mm,分辨率 0.01mm,支持声速自定义设置,适配金属板材、管道、化工容器试样。机身轻便,背光液晶显示,内置数据存储功能。整机工作温度 - 5~50℃,可用于试样厚度检测、腐蚀余量评估

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-10-17
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本JFE Advantech TI-70W化工超声波测厚仪日本JFE Advantech TI-70W化工超声波测厚仪

TI-70W 是日本 JFE Advantech 宽量程非破坏超声波测厚仪,适用于实验室与化工行业,仅需单面接触即可完成厚度测量。测量范围 1.5~100mm,分辨率 0.01mm,支持声速自定义设置,适配金属板材、管道、化工容器试样。机身轻便,背光液晶显示,内置数据存储功能。整机工作温度 - 5~50℃,可用于试样厚度检测、腐蚀余量评估,满足化工材料研发、压力容器试样质检需求。

产品介绍

产品细节图整套设备由手持主机、超声波探头、探头连接线、校准试块、耦合剂组成。主机为便携手持式结构,体积小巧,可在实验室台面使用,也可携带到现场检测。正面搭载背光 LCD 显示屏,可清晰读取厚度数值、声速参数。机身上设置功能按键,可完成声速调整、数据保存、单位切换操作。探头通过线缆和主机相连,可灵活伸入样品边角位置。仪器自带存储分区,可批量记录多组测试数据,方便后续导出比对。外壳防滑设计,握持稳定,适合长时间连续检测作业。

产品性能采用超声波脉冲反射测量原理,在样品单侧放置探头,超声波穿过材料,根据回波时间计算材料厚度,属于无损检测,检测不会损伤试样。TI-70W 为宽量程型号,测量范围 1.5~100mm,厚度显示分辨率 0.01mm,满足多种试样测量需求。支持声速自定义设置,可根据钢材、铝、塑料等不同材质调整声速参数。内置自动增益调节,降低材料内部晶粒对回波信号的干扰。具备开机自检功能,开机自动校验电路与探头状态,异常给出提示。支持数据记录,可保存大量测量记录,方便实验室做样品比对试验。仪器可识别回波信号,减少杂波干扰,提升读数稳定性,多次平行测试重复性良好。

用材主机外壳采用高强度工程塑料,防滑耐摔,抗化学试剂轻微飞溅。探头外壳为耐磨树脂,探头晶片选用高灵敏度压电陶瓷,超声波信号收发稳定。探头线缆采用屏蔽线材,降低环境电磁干扰,耐弯折。液晶屏幕表面加硬处理,防止轻微刮伤。内部电路板喷涂防潮防尘防护涂层,适配实验室常规环境。校准试块选用标准钢材,材质均匀,用于仪器日常校验。

参数表

表格

项目参数
型号TI-70W 超声波测厚仪
测量原理超声波脉冲反射法,单面无损测量
测量范围1.5~100mm
显示分辨率0.01mm
声速设置范围1000~9999m/s
工作环境温度-5~50℃
保证精度温度5~40℃
显示背光液晶显示屏
功能声速调整、数据存储、单位切换、开机自检
供电AA 电池供电
安全配置探头断线检测、设备自检报警
标配主机、标准探头、信号线、校准试块、耦合剂、操作手册、出厂证书

型号TI-70W 为本系列宽量程机型;同系列 TI-70K 薄物测量、TI-70L 厚物、TI-70H 高温专用、TI-70F 铸件专用、TI-70C 小径管专用。高温探头、小直径曲面探头、数据通讯模块属于选配。本仪器不适用于疏松多孔、强衰减材质。

用途化工板材、管道试样厚度检测;实验室材料研发样品厚度测试;金属试样腐蚀余量评估;压力容器试样质检;塑料、高分子板材厚度检测;化工设备试样抽检、来料检验;科研材料性能试验,各类固体均质试样无损测厚。

包装定制加固出口木箱,主机泡沫缓冲包裹,探头单独防护,避免晶片磕碰。校准试块、耦合剂、配件分格存放。箱内附带原厂检验证书、操作维护手册,远洋运输做防震防潮处理,开箱检查探头、显示屏无破损划伤。

使用说明将仪器放置平稳,装好电池,连接探头。取少量耦合剂涂抹在待测样品表面,探头紧贴样品。开机,设置对应材料声速,读取厚度数值。完成一组测试后,清理探头与样品表面耦合剂。可保存测量数据,用于实验室记录。测试结束擦净探头,收回仪器。定期使用标准试块校验仪器精度,保证测量准确。探头晶片避免硬物刮擦,线缆不要强行弯折。避免仪器长时间接触强腐蚀化学品。

售后服务我司提供到货开箱验收,协助设备校验、探头装配、参数设置与操作培训。原厂质保期内,非人为损坏故障提供维修;探头、线缆属于耗材配件,可单独订货。可提供无损检测方案咨询,协助探头选型、样品测试流程搭建。


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