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光学仪表

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LSF-AR0001日本synqroa大面积颗粒可视化检查照明装置日本synqroa大面积颗粒可视化检查照明装置日本 synqroa（シンクロア）L-FRONT 大面积颗粒可视化检查照明装置，搭载自研 PHASERAY 光学技术，专为镜面、高反光工件表面颗粒、异物、划痕目视检查开发。绿色 LED 光源，工作距离 500mm 时中心照度 40000Lux，有效照射直径可达 φ300mm，亮度 0~100% 连续可调，无需冷却风扇。可以让工件表面微小颗粒、杂质直观显

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更新日期
2026-10-19

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LFS-15K-B日本nissin-ele可调光LED光纤频闪照明器日本nissin-ele可调光LED光纤频闪照明器LFS-15K-B 为日进电子高速响应光纤式 LED 频闪照明器，采用功率 LED 光学结构，无风扇静音设计，发光脉宽最短 1μs，最高触发频率 10kHz。支持模拟旋钮手动调光，可直接接驳光纤光导，实现光源本体与照射头分离。依靠外部触发信号同步闪光，单次闪光光量稳定，无明显波动。适合高速移动工件、喷墨液滴、旋转部件的高速拍照观测

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更新日期
2026-10-13

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SKKL-CF 型 2X/3X日本 OTSUKA 大冢 SKKL-CF LED 照明放大镜日本 OTSUKA 大冢 SKKL-CF LED 照明放大镜，倍率可选 2X、3X、4X、6X、8X、10X、12X、15X。内置环形 LED 光源，光线均匀无阴影；镜片采用光学玻璃，透光好，畸变低。手持轻便，适合微小零件、PCB、精密工件表面外观检查。LED 亮度可调，长时间用眼不易疲劳，质检、实验室微小缺陷观察，附带原厂检验证书。

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2026-09-22

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中央精机 SPL‑100A 机器视觉 LED 照明装置中央精机 SPL‑100A 机器视觉 LED 照明装置，专为显微镜、机器视觉检测配套，采用高亮度 LED 阵列，亮度连续可调，发光均匀，减少工件反光与阴影。适配工业显微镜、图像检测工位，用于零部件外观、尺寸、缺陷观测。体积紧凑，易于安装，可搭配定心显微镜、各类位移滑台组合搭建光学检测平台，广泛应用半导体、精密零件检测领域。

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更新日期
2026-09-16

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日本AITEC 艾泰克TLBC1系列LED高辉度照明箱日本AITEC 艾泰克TLBC1系列LED高辉度照明箱，大面均匀背光光源，用于轮廓透光检测。均匀面发光，亮度多级可调，可检出工件轮廓、孔洞、裂纹、异物透光缺陷。适合薄膜、密封圈、小型零部件、半导体工件透光检测；既可人工目视检验，也可搭配工业相机做机器视觉轮廓拍照，台式放置，也可集成自动化设备。

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更新日期
2026-09-15

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代理商

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118

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