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  • ACE3‑VC2日本hi‑land 二维图像色度记录仪
    ACE3‑VC2日本hi‑land 二维图像色度记录仪 日本hi‑land 二维图像色度记录仪 该款面阵成像式二维光学检测设备,通过成像采集方式,一次性获取被测对象完整面域的光学信息,完成二维测量与色度相关分析工作。设备支持多语言操作界面,采用非压缩数据存储,保障高低亮度区域测量稳定,可对发光类样品做亮度、色度均匀性评估,数据可保存输出,多用于显示器件、光源产品研发、品质核验以及各类光学试样的对比评价工作。
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    2026-08-11
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  • TR15M日本technorise 精密试样平面研磨抛光机
    TR15M日本technorise 精密试样平面研磨抛光机 日本technorise 精密试样平面研磨抛光机 该款台式精密研磨抛光设备,可完成粗磨、精磨、镜面抛光,也可开展化学机械抛光加工。适配玻璃、各类金属、陶瓷多种材质试样,设备磨盘更换便捷,可搭配金刚石磨料、抛光垫、研磨浆料,支持砝码式压力加载,多用于新材料研发、半导体小样片工艺验证,完成试样平面减薄、表面平坦化处理。
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  • CN‑68026‑53美国coleparmer 真空压力表控制器
    CN‑68026‑53美国coleparmer 真空压力表控制器 美国coleparmer 真空压力表控制器 该款一体化真空压力测量与控制设备,可完成真空压力数值采集,同时实现闭环压力调节。机身搭载数字显示与操作按键,便于现场参数设定与读数查看,支持信号对外输出,能够对接上位系统完成数据传输。设备体积紧凑,便于集成至各类工艺管路与试验平台,用于维持管路内部真空压力稳定,满足实验室、化工工艺等场景的真空管控需求。
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  • Cadac 3日本etodenki 多通道物理量数据记录器
    Cadac 3日本etodenki 多通道物理量数据记录器 日本etodenki 多通道物理量数据记录器 该款多通道系统采集记录设备,可接入多种类传感器,完成电压、热电偶温度、电阻、湿度、脉冲信号等多种物理量同步采集记录。支持通道扩展,可灵活搭建不同测点规模的测量系统,设备搭配电脑开展参数设置、实时观测与数据存储。具备高速扫描采集能力,可长时间连续记录工况变化,适配实验室试验、设备测试、工艺现场监测,获取完整时序原始测量数据,用于试验分析与工艺评估。
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  • PED/FED日本technart 电流控制扭矩螺丝刀控制器
    PED/FED日本technart 电流控制扭矩螺丝刀控制器 日本technart 电流控制扭矩螺丝刀控制器 该款电流闭环控制型扭矩螺丝刀控制器,分为 PED 单功能机型与 FED 增强机型,依靠电机电流闭环实现扭矩管控,不需要扭矩传感器即可实现稳定重复的拧紧效果。设备开机自动识别配套电批,读取工具内置补偿参数,抵消工具个体差异带来的偏差,螺丝落座阶段实现近乎无冲击锁付,避免精密工件受压损伤。
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