描述：日本尼康 高精度数显高度计测量系统为一套精密接触式高度测量系统，广泛应用于微小高度、台阶差、平面度、厚度、位移、平行度检测。MH‑15M 为高精度线性测头，TC‑101A 为专用显示控制单元，读数精准稳定、响应快、重复定位性高，适配半导体、精密五金、电子元器件、光学零件、治具检具等微米级尺寸管控，可搭配平台支架实现快速精密测量。

日本尼康  高精度数显高度计测量系统

  在精密制造、半导体、光学行业中，微米级的高度、台阶差、平整度直接决定产品良率，普通卡尺、百分表精度不足，无法满足微小尺寸检测要求。日本尼康依托光学与精密测量技术沉淀，推出MH‑15M+TC‑101A 组合测量系统，采用高精度光栅式线性测头，将微小位移精准转化为数字信号，搭配专用控制器实现直观读数、峰值记录、公差管控，是精密零部件尺寸检测、制程管控、来料检验的标准配置设备。

日本尼康  高精度数显高度计测量系统

核心结构与性能优势

1. 光栅式精密测头，微米级超高精度

   MH‑15M 采用尼康自研光栅传感技术，区别于普通电感测头，线性度好、漂移小，可稳定捕捉 0.1μm 级微小高度变化。

2. 15mm 有效行程，适配多场景检测

   适中测量行程，兼顾微小零件台阶差、厚度、平整度、平行度，适合 3C、半导体、光学件、冲压件、塑胶件等通用精密检测。

3. TC‑101A 专用控制器，功能齐全易操作

   控制器支持一键归零、峰值 / 谷值保持、公差判定报警，可快速判定合格 / 不良，简化质检流程，降低人工读数误差。

4. 测力轻柔均匀，不损伤精密工件

   内置精密弹簧结构，测力稳定柔和，检测晶圆、玻璃、薄膜、超薄零件时不易压伤表面，适配脆弱精密件测量。

5. 读数稳定抗干扰，车间环境可靠使用

   信号处理优化，抗振动、抗电磁干扰，在产线工位、精密加工车间可稳定工作，无跳数、无漂移。

6. 安装灵活，扩展性强

   可搭配测量台、微调支架、自动化工装使用，也可对接 PLC、上位机实现数据输出，适配离线抽检与在线自动化检测。

行业实际应用价值

• 半导体行业：晶圆厚度、台阶差、封装件平整度、陶瓷零件高度检测；

• 3C 电子：手机配件、连接器、端子、塑胶件台阶差与厚度测量；

• 光学行业：镜片、玻璃盖板、滤光片厚度、平行度检测；

• 精密模具：模仁高度差、镶件台阶、平面度、治具尺寸校验；

• 实验室质检：样品微小尺寸测量、研发试样数据采集、来料精密检测。

使用与维护说明

售后保障