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日本 Nalex 荧光 X 射线镀层膜厚仪 H/HD 型日本 Nalex 荧光 X 射线镀层膜厚仪 H/HD 型日本 Nalex（アレックス）荧光 X 射线膜厚仪，采用能量色散 X 荧光原理，非破坏式测量各类电镀层、复合涂层厚度。支持单层、多层、合金电镀检测，可测元素范围广，微区准直器适配微小元器件。搭载 CCD 观察相机，可选 XYZ 电动样品台，FP 基础参数法 + 标准曲线双算法，软件自动记录、导出报表。适合连接器、PCB、半导体引脚、五金件镀金

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更新日期
2026-10-26

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代理商

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日本 AND AD-3256 便携式双功能涂层测厚仪日本 AND AD-3256 便携式双功能涂层测厚仪该款为电磁 + 涡流双模式涂层测厚仪，可自动识别铁基、非铁基材，手持便携，彩色屏幕，自带 500 组数据存储，配套三色判定指示灯，适合汽车、船舶、桥梁钢结构涂装、防腐层现场抽检与质量管控。

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2026-10-23

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UCF-CB日本pureron普瑞伦0.01μm陶瓷气体过滤器日本pureron普瑞伦0.01μm陶瓷气体过滤器该款 UCF-CB 为在线式陶瓷气体过滤器，过滤精度 0.01μm，压力损失低，滤芯为管状陶瓷结构，耐腐蚀性良好，出厂经过超净清洗烘干，多用于半导体高纯气体管路，去除管路内微粒，保障晶圆工艺稳定性。

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更新日期
2026-10-23

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代理商

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TOF-6R001日本Yamabun山文电气台式薄膜片材质测厚仪日本Yamabun山文电气台式薄膜片材质测厚仪日本 yamabun 山文电气 TOF-6R001 台式离线测厚仪，光栅恒压接触式结构，专为超薄光学膜、片材研发质控设计。量程 5～100μm，分辨率 0.01μm，配备 0.12N/0.19N 两档测压，避免软质薄膜受压形变。支持单点检测、连续扫描、边缘扫描三种模式，可自动生成厚度分布曲线，数据 USB 导出。重复性优异，适合锂电隔膜、PI 膜、功能

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更新日期
2026-10-22

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72DL PLUS日本Evident塑料金属超薄材料超声波测厚仪日本Evident塑料金属超薄材料超声波测厚仪日本 Evident 72DL PLUS 超声波测厚仪，分为标准频率与高频版本，适配塑料、金属、玻璃、涂层等超薄试样单侧无损测厚。高频款兼容最高 125MHz 探头，可实现多层结构同步检测，最多识别 6 层界面厚度。配备 7 英寸触控屏，支持 A 扫波形显示，内置 Wi-Fi、蓝牙，可导出数据。整机防护等级 IP65，适合实验室与产线抽检，测量分辨率高

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更新日期
2026-10-22

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代理商

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