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日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪

描述:日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪。,区别 RT/RG 半自动机型,整机全密闭洁净腔体,依靠内置多轴伺服机械手完成晶圆从料匣取片、点位测量、按阻值 / 厚度 / 导电类型自动分拣入对应出料匣,全程无需人工插手,适配半导体晶圆厂、光伏电池片产线大批量在线分选。

  • 产品型号:WS-8800
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-03
  • 访问量:33
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪

1、整机结构组成

整机分为五大核心模块:密闭防尘主机柜体、内置多轴洁净转运机械手、集成式四探针测量主机、多工位料匣放置区、工控触控操作与分选软件系统。机械手采用洁净级真空吸附取片结构,腔体全透明防爆可视门,内部气流控尘设计,适配万级洁净车间使用;料匣工位支持非标增减,常规标配多组进料匣与多规格分选出料匣。

2、适用晶圆规格

标准机型原生兼容 3 寸、4 寸、5 寸、6 寸、8 寸圆形硅晶圆;定制扩容版本可升级适配 12 寸大尺寸晶圆,可处理单晶硅、多晶硅、碳化硅 SiC 衬底、外延片、离子注入片、各类光伏单晶 / 多晶电池片,覆盖半导体与光伏两大主流原材料检测分选场景。

3、测量量程参数

体电阻率测量区间 100μΩ・cm~1MΩ・cm;方块电阻量程 1mΩ/□~10MΩ/□,主机自带整机开机自检程序,内置厚度补偿、边缘效应补偿、环境温度补偿三项算法,自动修正硅片实测数据,规避晶圆边缘、厚薄不均、温变带来的测量偏差,测量误差稳定控制在设备原厂标称精度内。

4、机器人转运与分选逻辑

机械手按照软件预设程序从进料匣逐片吸取晶圆,移送至四探针测试工位完成单点或多点阵列测试,设备自动记录单片阻值、厚度、P/N 导电类型数据,系统根据提前录入的分档阈值,自动判定品级,机械手再将测试完成的晶圆转运至对应分类出料匣;异常破片、参数超标不良品会单独归集至不良料仓,全流程自动化闭环。

日本napson 全自动上下料硅片分拣测试仪

5、核心产品特点

1. 全流程无人值守运行,上料完成后设备连续自动分选,大幅节省人工抽检成本,适配工厂大批量连续量产。
2. 整机支持 CIM 工厂通讯协议,可接入产线 MES 上位系统,实时上传每片晶圆检测数据,实现生产数据全追溯,兼容行业通用 FOUP、SMIF 标准密闭晶圆盒,不用改造即可对接上下游自动化设备。
3. 分档规则全软件自定义,可自由设置多档位分选区间,可按方阻分档、厚度分档、PN 型分类三种分选逻辑单独或组合使用。
4. 腔体全封闭防尘构造,阻隔车间粉尘污染探针与晶圆,减少探针损耗与晶圆表面颗粒污染,适合洁净车间长期不间断投产。
5. 软硬件一体化原厂配套,后期可按需更换不同规格四探针探头,兼容低阻硅片、中阻镀膜、特种高阻衬底多品类物料。
6. 故障自诊断提醒,缺片、卡匣、真空异常、探针故障自动弹窗报警并暂停设备,保护晶圆与机身零部件。

6、应用适用行业

半导体行业:各类尺寸单多晶硅抛光片、外延晶圆、离子注入晶圆、SiC/GaN 功率器件衬底来料分级分选;
光伏行业:PERC、TOPCON、HJT 全工艺 166/182/210 规格硅片扩散层均匀度检测与阻值分档;
新材料行业:小尺寸导电薄膜、掺杂陶瓷片等导电基材电性分选管控。

7、可选选配配件

可定制增加额外进料 / 出料料匣工位、12 寸晶圆专用机械手治具、高低阻专用替换探针、设备恒温腔体模块、外置数据存储服务器、原厂备用机械手真空吸头、各类 FOUP/SMIF 适配转接工装。
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