描述：日本凯特kett 糙米精米外观透光检测设备
TX-200 是日本 KETT 凯特科学研究所推出便携式米粒透视谷粒观察仪，专为糙米、精米外观无损透光检测设计，依靠背部荧光背光穿透米粒，搭配专用蓝色衬底强化谷物色差与内部瑕疵对比度，直观识别米粒裂纹、白腹、异色粒等加工缺陷。设备配备可旋转样品载台，多角度观察谷粒完整形态；支持干电池、交流适配器两种供电方式，机身小巧轻便。

产品型号：TX-200
厂商性质：代理商
更新时间：2026-06-26
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本凯特kett 糙米精米外观透光检测设备

适用场景

大米加工米厂生产质检
糙米脱壳、精米抛光各工序中间抽检，筛查裂纹米、白腹粒、破损粒，把控加工成品外观等级，优化碾磨工艺参数。
粮食储备库入库 / 出库检验
稻谷、成品大米仓储入库验收、出库抽检，现场快速判定谷物外观品质，区分优质米、次等米，规范仓储分级管理。
粮油质检实验室试样分析
粮食检测机构、食品企业实验室做稻米品质对比试验，留存试样透光观测影像，出具合规品质检测记录。
稻米育种、农业科研单位
水稻新品种种植试验，观测糙米垩白、谷粒完整度，对比不同品种大米外观品质差异，辅助育种性能评估。
粮油贸易收购现场查验
大米购销收购现场便携质检，快速判定货源谷物瑕疵占比，作为贸易定价分级参考依据。
高校食品、农学专业教学实验
粮油加工、粮食作物专业课堂教学，直观展示大米内部结构与加工缺陷，用于实训实操教学。
食品加工厂原料来料验收
粥品、米制品加工厂大米原料入库筛查，剔除裂纹、变质异色米粒，保障终端食品成品品质稳定。

日本凯特kett 糙米精米外观透光检测设备

产品核心优势

背光透光无损观察，瑕疵识别更直观
穿透式背光可看清米粒内部隐藏裂纹、垩白，普通表面肉眼观察无法识别的隐性缺陷可清晰显现，质检判定更精准。
蓝色衬底高对比成像，降低人工漏判
蓝底与大米天然色泽形成视觉反差，各类异色、破损谷粒轮廓突出，新人操作人员也能快速区分瑕疵米，统一质检标准。
旋转载台无需挪动米粒，检测效率更高
样品托盘可自由旋转，单粒大米多角度完整观测，大批量试样连续筛查无需反复取放米粒，缩短单批次检测工时。
双供电模式，室内户外全场景适配
电池供电支持粮库、收购现场无电源便携作业，适配器供电适合实验室、车间长期固定质检，不受场地供电条件限制。
整机轻巧遮光翻盖，环境适配性强
自带遮光翻盖隔绝车间、仓库环境强光，无论室内避光实验室还是明亮加工现场，都能稳定清晰成像，不受外界光线干扰。
无损检测不损耗原料，节约检测成本
仅透光观察不破坏大米试样，检测完成的谷物可正常回收加工，对比切片、研磨类检测方式无原料浪费。
配套品质判定手册，质检标准化
自带行业通用稻米瑕疵对照标准，企业可统一内部验收判定规则，满足粮油加工、仓储行业合规质检要求。
操作极简上手，无需专业培训
仅需将米粒放置载台即可开机观测，无复杂调试流程，车间一线质检人员简单熟悉即可独立完成批量筛查。

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