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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本大冢电子Otsuka 高通量纳米浆料分析仪
型号:nanoSAQLA(多样品纳米粒径测试系统)
测量原理:动态光散射 DLS,光子相关法
光源:660nm 70mW 高功率半导体激光
探测器:高灵敏 APD 光电探测器
粒径测量区间:0.6 nm ~ 10 μm;直方图解析下限 0.2 nm
适用样品浓度:0.00001 ~ 40%
样品承载:5 工位旋转样品盘,独立控温通道
温控区间:0 ~ 90℃,控温精度 ±0.1℃,支持梯度温度程序
单次样品需求量:1.2 ~ 2.0 ml
单样检测时长:约 60 秒
光学结构:非浸入式,无液体接触光学元件
执行标准:ISO 22412:2017、JIS Z 8828:2013、JIS Z 8826:2005
整机尺寸:W240 × D480 × H320 mm
整机重量:约 18 kg
工作环境:10~40℃,无强腐蚀气雾、无大量粉尘直喷
日本大冢电子Otsuka 高通量纳米浆料分析仪
5 工位独立样品盘,多试样连续检测
自带旋转式 5 位样品承载盘,可一次性放置 5 组试样,每组可独立设置温度、测量时长参数,依次自动完成检测,不用人工反复更换样品,提升批量试样处理效率。
宽浓度兼容,稀液 / 高浓浆料通用
适配 0.00001% 极低浓度纳米分散液,最高可测 40% 固含量粘稠浆料,仪器自动识别样品透光程度,调整激光接收位置,不用人工稀释调整参数。
0~90℃全域精准温控,支持梯度温度程序
内置帕尔贴温控单元,控温精度 0.1℃,可设定阶梯式升温 / 降温程序,用于温敏高分子、相变纳米材料、高温浆料的粒径变化跟踪测试。
一分钟快速完整检测,数据重复性稳定
设备自动完成光路定位、散射信号采集、粒径分布解析,单样整套流程约 60 秒,大批量平行试样单日可完成上百组检测。
适配一次性密封样品池,试样损耗低
配套标准微量样品池,单次仅需 1.2~2.0ml 试样,贵重医药纳米制剂、稀有研发原料取样量少;一次性池体用完即弃,无残留干扰。
整机小型台式轻量化,实验室布局灵活
机身占用台面空间小,无需配套大型辅助设备,常规化验台可直接放置,多实验室之间可简易转运。
锂电正负极纳米浆料研发
硅碳、纳米氧化物电极分散液粒径监测,评估分散工艺稳定性,高低浓度浆料无需更换检测设备。
生物医药纳米制剂实验室
脂质体、纳米胶束、药用微球粒径测定,一次性样品池无交叉污染,满足医药研发洁净管控需求。
陶瓷、抛光粉体材料质控
氧化铝、氧化锆纳米粉体水分散液粒度分析,判断研磨、分散工序成品状态。
涂料、油墨、色浆配方开发
水性乳液、颜料纳米分散体系粒径分布对比,筛选分散助剂配比。
高分子乳液、纳米复合材料试验
温敏型聚合物微球梯度温度粒径跟踪,观测温度对团聚状态的影响。
高校材料、化工专业教学实验
动态光散射原理实操教学,多组配方平行对比试验配套设备。
精细化工纳米助剂来料检验
纳米添加剂、表面改性粉体进厂快速筛查,管控批次粒径一致性。
第三方材料检测机构高通量试样受理
多客户、多品类纳米液体试样批量并行检测,无交叉污染保障数据准确。
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