描述：日本大塚电子OTSUKA 多通道高速分光光谱仪
本款 MCPD seri 多通道分光光谱仪由日本 OTSUKA 大塚电子研发制造，搭载电子制冷型 PDA 光电二极管阵列感光元件，覆盖紫外、可见光至近红外全波段测量区间，整机搭配柔性石英光纤光路系统，可灵活搭配各类光学附件搭建检测工位。

基础核心参数

1. 测量原理：多通道阵列分光干涉检测，全息光栅分光架构

2. 核心机型：MCPD-9800 旗舰、MCPD-7700 高感、MCPD-6800 通用标准型

3. 感光阵列：512ch/1024ch 电子制冷光电二极管阵列

4. 波长区间：220~1000nm 多规格光栅模块自由选配

5. 曝光采集：最短 5ms 高速扫描，最长 65s 长曝光弱光采集

6. 光纤配件：标配 2 米耐弯折石英光纤，φ12 标准通用接头

7. 通讯端口：USB、LAN 双接口，支持电脑远程控制与数据上传

8. 供电规格：单相 AC100~240V 宽幅工业电源，整机功耗 125VA

9. 机身尺寸：105×230×280mm，整机重量约 6kg，体积较前代缩小 60%

10. 核心运算：内置杂散光校正、膜厚专用分光干涉解析算法

11. 拓展适配：可对接显微镜、积分球、多点光纤切换器、真空光路组件

12. 可测参数：透射率、吸光度、反射光谱、发光光谱、色度、薄膜厚度、荧光强度

日本大塚电子OTSUKA 多通道高速分光光谱仪

核心功能特点

1. 全系列多机型、多波长光栅模块化选配，可根据紫外、可见光、近红外不同检测需求自由搭配光路配置

2. 电子制冷阵列感光元件，有效降低暗电流噪声，弱光荧光、微量紫外检测信噪比优异，测量重复性稳定

3. 最短 5ms 全光谱同步采集，满足高速流水线工件实时在线监测，适配半导体 CMP 研磨终点实时判定

4. 内置杂散光校正功能，大幅降低紫外区间测量干扰，提升薄膜、微量溶液光谱检测精准度

5. 柔性分体光纤光路设计，主机与检测探头分离布设，可嵌入真空腔体、高温设备、狭小机台内部完成取样

6. USB+LAN 双路数据通讯，单机可直连电脑，多台设备可组网集中管控，产线远程自动化控制便捷

7. 配套全功能光谱分析软件，集成色度运算、膜厚拟合、发光光谱解析、批量数据导出报表功能

8. 宽区间可调曝光时长，兼顾高速产线快速检测与微弱荧光、低透光样品长积分精准测量

9. 立式紧凑轻量化机身，台面、电控机柜两种安装形态，不占用设备大量布局空间

10. 整机原厂出厂统一光谱精度标定，检测数据符合日本 JIS 光学行业标准，支持 JCSS 溯源校准认证

适用场景

1. 半导体晶圆制程，氧化膜、氮化膜、光刻胶薄膜厚度在线测量，CMP 研磨终点实时监测

2. 光学镀膜、镜片加工厂，AR 减反膜、滤光片透射反射光谱、镀层均匀度质检

3. LED/OLED 照明与显示行业，光源发光光谱、色坐标、亮度、微小像素显微分光检测

4. 功能性薄膜产线，PET、涂布膜、蒸镀膜多层膜厚、透光率批量在线管控

5. 新材料研发实验室，纳米材料、光学树脂、量子点吸收与荧光光谱实验分析

6. 第三方光学检测机构，各类样品标准化透射、反射、色度、膜厚检测，出具合规光谱报告

7. 汽车与消费电子质检，车漆色差、塑胶外壳色度、显示屏光学性能校准

8. 生化、制药实验室，药液吸光度、溶出度、微量荧光分光定量分析