描述：日本jht 显微镜原位拉伸样品台
该款适配光学显微镜使用的原位拉伸样品台，可对薄片试样施加可控拉伸载荷，同时同步开展显微观测。设备集成加热单元，可实现温度与拉伸载荷同步加载，在显微镜下直接记录矿物、岩石试样在外力作用下晶粒滑移、裂纹萌生、晶体形变等微观演变过程。整体尺寸适配显微镜载物台安装位，试样夹持结构适配地质薄片类试样，多用于矿物变形机理研究、岩石材料微观力学试验，实现加载过程全程可视化记录。

核心参数

• 设备类型：显微镜原位电动拉伸样品台

• 温度区间：室温‑350℃

• 试样规格：宽度 7mm 以内，厚度 2mm 以内，长度 26mm 以上薄片试样

• 加载方式：电动可控拉伸驱动

• 适配显微镜：正置、倒置偏光、金相光学显微镜

• 观测窗口：透光观测窗口，保障显微光路通行

• 控制单元：外置控制器，完成拉伸位移、温度参数设置

• 整机形态：台式载物台主体搭配外置电控机箱

• 工作环境：室内实验室，通风良好

• 标配配件：拉伸台主机、外置控制器、试样夹持夹具、操作说明书

• 选配配件：低温冷却组件、位移采集模块、定制试样夹具

日本jht 显微镜原位拉伸样品台

核心功能特点

1. 拉伸加载与显微观测同步开展，直接观察矿物受外力时微观结构演变。

2. 集成加热功能，实现温度‑拉伸耦合试验，模拟地质环境下热力共同作用条件。

3. 专用夹持夹具，适配岩石、矿物薄片试样，满足地质类样品测试需求。

4. 整体外形适配显微镜载物台，拆装便捷，无需对显微镜做改造。

5. 外置控制器统一管控拉伸位移、温度参数，可设置多段试验程序。

6. 透光观测窗口不遮挡光路，显微镜可完整捕捉试样全域形变画面。

7. 可连续记录裂纹扩展、晶粒变形、晶界滑移等微观现象，留存试验全过程信息。

8. 可搭配图像采集设备，完成试验影像留存，便于后期数据分析复盘。

适用场景

1. 地质科研实验室，矿物岩石薄片试样拉伸试验，研究矿物变形行为。

2. 岩石力学研究，观测外力作用下裂纹萌生、扩展、晶体滑移演化过程。

3. 高温‑应力耦合模拟试验，模拟地下地质环境，观察矿物微观形变。

4. 高校地质、材料学科实验室，晶体、岩石材料原位力学教学试验。

5. 矿物材料性能研究，比对不同条件下矿物的变形、开裂行为。

6. 岩石薄片微观力学测试，开展样品形变机理分析。

7. 新材料研发，薄片类试样高温拉伸下微观组织原位观测。

8. 需要在显微镜下完成矿物、薄片试样拉伸加载、原位形变观测的科研工况。