描述：日本santec 高性能可调谐半导体激光器
TSL‑580 为 Santec 第八代高性能可调谐半导体激光器，面向硅光子学、光子集成电路、量子光学、光通信器件研发测试，采用全新设计激光谐振腔与低噪声控制电路，兼顾高输出功率、窄线宽、高速波长扫描、优良扫描线性度。可本地触控操作，也支持远程程控，适配自动化光学测试平台，用于无源光子器件、硅光芯片 PIC 的光谱响应、插入损耗、光栅耦合等表征测试。

核心参数

1. 设备型号：TSL‑580

2. 调谐波长范围：1240‑1640nm

3. 峰值输出光功率：＞+15dBm（30mW，连续波 CW）

4. 典型线宽：20kHz（Type‑Q 版本）

5. 扫描速度：1‑200nm/s 双向扫描

6. 波长分辨率：0.1pm

7. 信噪比：90dB/0.1nm

8. 扫描线性度：＜5%

9. 波长绝对精度：±2pm（25℃，典型 ±1pm）Santec

10. 输出接口：单模光纤输出，FC/SC‑APC 可选

11. 操作方式：机身触控显示屏，远程程控

12. 通讯接口：USB、LAN、GPIB

13. 整机外形尺寸：430×132×420mm

14. 整机重量：13.5kg

15. 供电规格：AC100‑240V，50‑60Hz

16. 工作环境：实验室室内，温度 18‑28℃，湿度 20‑80% RH 无冷凝

17. 标配配件：激光器主机、光纤输出跳线、电源线、操作说明书

18. 选配配件：偏振控制器、光功率计模块、备用输出光纤、自动化测试软件套件

核心功能特点

1. 高输出光功率，针对高插入损耗器件、硅光子表面光栅耦合测试，规避光功率不足带来的信噪比劣化，保障测量稳定性。

2. 窄线宽输出，相干性能优异，适配量子光学、高精度光谱、相干传感等对光源相干度严苛的实验场景。

3. 高速双向波长扫描最高 200nm/s，扫描线性度大幅提升，波长测试数据重复性好，适合大批量器件自动化扫描测试。

4. 波长分辨率可达 0.1pm，波长定位精度高，可捕捉光子器件精细光谱谐振特征。

5. 本地触控屏幕直观设置波长、功率、扫描参数，同时具备完整远程程控接口，可集成到自动化测试系统。

6. 高信噪比输出，抑制自发辐射噪声，降低测试基底噪声，提升微弱器件信号检测能力。

7. 可同品牌光功率计、偏振控制器配套，完成插入损耗 IL、偏振相关损耗 PDL 整套器件表征流程。

8. 台式机箱，体积紧凑，既可桌面科研实验，也可机柜上架，适配实验室与产线测试两种工况。

适用场景

1. 硅光子学研发，硅光芯片 PIC、光栅耦合器件光谱与损耗表征测试。

2. 量子光学实验，窄线宽相干光源供给，开展量子光子相关课题研究。

3. 光通信器件研发，滤波器、耦合器、谐振腔等无源光子器件扫描表征。

4. 相干通信系统研发，光源仿真与器件性能评估。

5. 光纤传感领域，FBG 光栅、高精度光谱传感系统测试光源。

6. 光器件量产工位，自动化系统集成，批量器件光谱筛选检测。

7. 高校光电、量子物理实验室，科研实验与课题样品测试。

8. 需要高性能可调谐激光光源开展光子器件表征的科研与工业测试项目。