MSP‑100B日本shibuya‑opt 曲面薄膜反射率测定装置
日本shibuya‑opt 曲面薄膜反射率测定装置
薄膜反射率测量系统,由显微光学主机与光源控制单元组成,依托半透镜光学技术,可完成微小面积、曲面、超薄样品的高速高精度反射率检测。同时支持色度 Lab 色彩分析,对单层、多层镀膜开展均匀性评估,把薄膜光学特性转化量化光谱数据,用于光学材料研发、镀膜工艺验证与成品品质检验。
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更新日期
2026-08-27 - 02
厂商性质
代理商 - 03
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2026-06-18





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