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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本岛津shimadzu 多色仪式激光光谱分析仪
设备型号:SPG‑V500(Si 硅型 / InGaAs 铟镓砷型)
测量原理:多色仪 + 阵列图像传感器,并行同步采集光谱
波长量程
‑Si 硅型:185‑1095nm(紫外‑可见‑近红外)
‑InGaAs 铟镓砷型:950‑1700nm(近红外‑短波红外)
波长分辨率
‑Si 硅型:≤40pm
‑InGaAs 铟镓砷型:≤50pm,典型值 20pm
最小积分时间:6μs,可捕获单脉冲激光信号
光输入方式:多模光纤为主;InGaAs 版本兼容单模光纤输入
动态范围:标配基础档位,可选配至高 60dB 高动态范围套件
软件功能:光谱监控、强度映射、光谱时序趋势图
通讯接口:USB 接口,电脑软件控制、数据存储导出
整机外形:W220×D420×H130mm
整机重量:约 7.5kg
供电规格:AC100‑240V,50‑60Hz
使用环境:10‑40℃,湿度 20‑80%,无冷凝结露
标配配件:SPG‑V500 主机、输入光纤、电源线、操作说明书
选配配件:高动态范围选件、单模光纤适配组件、PC 分析软件、光学转接配件
阵列传感器并行采集,无需波长扫描,可抓取脉冲激光转瞬即逝的光谱,观测模跳、热漂移等瞬态光谱行为。
多模光纤输入依旧保持高分辨率,不用严苛精密光路对准,降低设备调试难度,缩短测试准备工时。
两种传感版本,覆盖紫外‑可见‑近红外‑短波红外,适配不同波段激光器的评估需求。
积分时间档位丰富,兼顾微弱脉冲信号与连续光源测试,适配多样化激光样品。
配套软件可输出光谱趋势图谱,直观查看波长、光强随时间的变化,便于定位光源异常问题。
USB 数据通讯,完整保存光谱原始数据,便于研发对比、产线检测数据归档。
台式小巧机身,实验室台面摆放,也可集成到产线工位,实现产品全数检测。
可以和光功率计搭配联用,同步获取光谱信息与输出功率,辅助激光器调试优化。
激光器件研发:半导体激光器、脉冲激光器,观测模跳、波长漂移,评估光源光谱稳定性。
光通信行业:通信波段激光光源模块光谱性能检测,研发与出厂质检。
光电行业:激光雷达、各类激光组件光谱特性测试。
材料光学实验室,脉冲光源相关课题试验研究。
生产产线,激光模块批量光谱筛查检测。
高校科研院所,瞬时光谱、激光相关实验平台搭建。
需要捕捉脉冲激光、实时观测光谱动态变化的光学测试工位。
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