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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本melectro 多量程激光多普勒测振仪
设备型号：V1002
测量原理：光学外差激光多普勒干涉法，2 类安全激光标准
激光光源：He‑Ne 氦氖激光，波长 632.8nm
频率测量区间：0.1Hz‑3MHz，选配高频单元可拓展至 20MHz
速度测量区间：0.1μm/s‑10m/s，四档量程切换，动态范围 160dB
测量工作距离：108‑2000mm，测量光斑直径 20μm
信号输出：±10V 模拟电压输出，支持速度、位移、加速度信号输出
滤波器：多档低通滤波；两档高通滤波可选
降噪模式：HIGH / LOW / OFF 三档降噪切换，LED 信号强度指示
主机外形：360×178×390mm，整机重量 11kg
探头单元：59×43×122mm，探头重量 550g
供电规格：AC100‑240V 宽电压输入
使用环境：光学实验室、研发检测室，室内避光无强对流环境
标配配件：V1002 主机、激光测振探头、连接线缆、操作说明书
选配配件：高频拓展单元、光学调整支架、数据采集模块、反射贴片套件
多量程档位切换，从极微弱微振动到大振幅振动均可覆盖，一台设备适配跨度较大的测试工况。
非接触测量，不会对轻薄试样、微型器件产生附加载荷，保障试样原始振动状态不受干扰。
宽频率带宽，全量程保持一致频率范围，相位旋转小，适合动态波形完整复现采集。
自带多级降噪功能，普通低反光工件可省去反射贴，简化样品预处理，提升测试效率。
可输出速度、位移、加速度三类振动信号，直接对接示波器、数据采集系统，方便后期分析。
探头与信号处理主机分离，探头体积小巧，便于安装在光学平台、工装夹具上，空间适配灵活。
LED 实时显示回光信号强度，方便操作人员快速调整激光光斑对准被测点位。
可选配高频拓展单元，进一步向上拓展测试频率上限，满足超声类器件高频振动测试需求。
高校科研院所，材料试样、薄膜结构微振动特性实验研究。
声学行业，压电元件振动响应特性检测。
电子研发，微型元器件、MEMS 器件动态振动性能测试。
机械研发，小型精密零部件振动模态分析，零部件共振点查找。
工业品控，扬声器、振动器件成品振动一致性抽检。
需要开展非接触式微振动、高频振动采集分析的实验检测工位。
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