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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION日本yamabun 柔性膜材无损测厚仪
核心参数
产品型号:TOF‑C2
产品类型:非接触式薄膜测厚仪
整机组成:测试主机、外置电源控制单元
测试方式:非接触无损测量
适用样品:保护膜、高分子薄膜、各类柔性薄层材料
机身结构:台式整机,台面式试样放置平台
调节部件:旋钮调节机构,用于试样对位微调
供电单元:独立外置电源盒,电源开关控制整机启停
放置形式:桌面安放,设备脚垫支撑
工作环境:0‑45℃,湿度 20‑85% RH,无凝露
日本yamabun 柔性膜材无损测厚仪
功能特点
非接触检测方式,不会压伤、挤压轻薄薄膜试样。
台式一体化结构,放置于实验台面即可开展测试。
配置微调旋钮,方便调整试样位置,完成精准对位。
独立电源单元,供电稳定,保障设备持续运行。
适配多种柔性膜类样品,样品适用范围广。
用于研发阶段配方工艺对比,评估薄膜厚度表现。
质检工位做批次抽检,监控成品厚度波动情况。
整机布局规整,操作流程简单,人员易上手。
无损检测,测试之后样品可继续留存做其它实验。10. 专为薄层膜材设计,满足保护膜行业检测需求。
适用场景
光学保护膜、功能薄膜实验室厚度检测。
高分子塑胶薄膜生产企业,来料及成品质检。
新材料研发,柔性薄层材料工艺开发测试。
电子行业各类保护膜试样性能验证。
科研院校实验室,薄膜相关课题实验测试。
第三方检测机构,膜类样品厚度项目检测。
包装薄膜行业,评估薄膜厚度均匀特性。
膜材工艺优化,比对不同工艺下厚度差异。
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