描述：日本santec 高速无跳模半导体激光器
日本 Santec TSL‑775 可变波长激光器，为第七代旗舰级外腔式可调谐光源，整机对激光谐振腔体与控制电路做全新重构设计。实现宽波段无跳模连续扫描，内置高精度波长计，兼顾高速扫描、高输出功率、窄线宽、低噪声、高波长稳定性多项性能。

日本santec 高速无跳模半导体激光器

核心参数

• 产品型号：TSL‑775

• 调谐波段：1480‑1640nm，全波段无跳模调谐，调谐宽度 160nm

• 最大扫描速度：200nm/s

• 输出光功率：最大 + 13dBm

• 信噪比：90dB/0.1nm

• 光谱线宽：＜60kHz

• 波长精度：0.3pm 典型值，内置波长计扫描模式精度 ±2pm

• 精细调谐范围：10GHz

• 操作方式：前面板触控屏幕，支持远程程控

• 通讯接口：LAN、USB、GPIB

• 输出接口：光纤输出

• 机箱形态：台式，支持标准机柜上架

• 供电：AC 交流供电

• 工作环境：15‑30℃，湿度 20‑70% RH 无冷凝

功能特点

1. 自研谐振腔结构，提升腔体 Q 值，单纵模输出稳定，抑制振动与声学扰动带来的波长漂移Santec。

2. 160nm 大范围无跳模扫描，最高 200nm/s 高速扫频，大幅提升光谱测绘与自动化测试效率。

3. 内置高性能波长计，扫描过程同步记录波长数据，获得更高的波长测量准确度。

4. 高输出功率搭配高信噪比，即便测试高插入损耗器件，也可获得可靠测量信号。

5. 窄线宽输出，适合相干探测、干涉测量、OFDR 等对光源相干性要求严苛的实验。

6. 10GHz 精细调谐功能，支持微小波长步进，便于谐振器件精细光谱特征捕捉。

7. 触控显示屏，波长、功率、扫描参数可视化设置，人机操作直观简便。

8. 多类型程控接口，方便接入自动化测试平台，完成光器件全套自动化性能检测。

9. 台式紧凑机箱，可桌面摆放，也适配机柜上架，兼顾实验室研发与产线工位使用。

适用场景

1. 光通信无源器件，滤波器、AWG、WSS、光纤光栅光谱损耗性能检测。

2. 硅光子与光子集成电路，微环谐振器、光栅耦合芯片光谱表征测试。

3. DWDM 光模块研发及量产，波长相关损耗、器件光谱响应自动化检测。

4. OFDR 光纤分布式传感，各类高精度干涉测量系统光源供给。

5. 量子光学、光谱学、太赫兹生成等前沿科研实验相干光源。

6. 高校科研院所，光电子、光子材料相关课题实验研究。

7. 光学计量、气体传感，精密光谱测量实验。

8. 光子器件来料检验，批量样品光谱特性筛查评估。

9. 自动化测试平台集成，产线光器件自动化性能检测。

日本santec 高速无跳模半导体激光器

日本santec 高性能可调谐半导体激光器