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小野测器静电电容式非接触测厚仪

描述:小野测器静电电容式非接触测厚仪,为 CL‑5610 系列升级后继机型,属于电学式精密测厚设备,**不属于光学仪器**株式会社 ...。采用电容传感原理,无接触测量避免工件损伤,运算周期 10ms,适配高速产线多点检测。标配支持导体、半导体检测,选配 CL‑0740 可测量绝缘薄膜。搭载 4.3 英寸触控彩屏,支持温度补偿,可扩展以太网通讯实现数据采集与远程监控。广泛用于半导体晶圆

  • 产品型号:CL‑7100
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-09-08
  • 访问量:14
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

小野测器静电电容式非接触测厚仪(CL‑7100)

小野测器静电电容式非接触测厚仪产品概述

CL‑7100 静电电容式非接触测厚仪,接替 CL‑5610 系列,强化测量精度与响应速度,面向半导体、新能源 EV、二次电池行业做厚度品质管控。依靠静电电容原理完成测量,不采用光学、激光方式,非接触测量不会划伤、挤压待测样品,既可以用于实验室离线测试,也可集成至自动化产线做连续在线检测株式会社 ...。

核心优势

  1. 高精度高速响应测量精度 ±0.05~±0.12% FS(随配套传感器变化),运算周期缩短至 10ms,支持高速产线多点连续测量,保障检测效率与数据重复性NIHON DENK...。

  2. 温度补偿,数据可联网(选配)可接入 PT‑100 温度传感器同步采集温度,补偿温漂带来的测量偏差;选配以太网模块,实现数据集中采集、远程监控,对接工厂 MES 系统株式会社 ...。

  3. 触控 + 实体按键双操作4.3 英寸彩色触控液晶屏,单屏同时显示 4 组测量参数;保留实体按键,佩戴手套也能操作,适配工业现场使用习惯Ono Sokki。

  4. 材质覆盖灵活,选件拓展能力强出厂标配测量导体、半导体;加装 CL‑0740 绝缘体测量选件,即可检测锂电池隔膜、绝缘薄膜等非金属试样;另有高分辨率、模拟输出、比较输出等功能选件,按需配置株式会社 ...。

  5. 小型低功耗整机体积重量相较上代缩减约 50%,功耗更低,节省机柜安装空间株式会社 ...。

主要应用场景

半导体行业:硅晶圆厚度检测 

新能源行业:EV 电池、二次电池绝缘薄膜检测 

金属材料:电机电磁钢板厚度测量 

科研实验室:导体、半导体试样厚度分析 

自动化产线:在线连续厚度监控

基础参数

表格

项目参数
测量原理静电电容式(非光学)
显示屏4.3 英寸彩色 LCD 触控屏
运算周期10ms
测量对象标配:导体、半导体;选配 CL‑0740 后支持绝缘体
操作环境温度:0‑40℃;湿度 20‑85% RH(无结露)
输出接口模拟输出、比较器、BCD 输出、以太网(均为选件)
整机形式CL‑7100(内置放大器) / CL‑7100S(分离放大器)


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