描述：日本渋谷光学 SHIBUYA 单筒连续变倍显微镜SZ7、SZ7chi 为渋谷光学工业单筒连续变倍显微镜，采用多层增透光学镜片，成像低畸变。SZ7 适用于常规工件外观检测；SZ7chi 内置同轴光路，专门应对晶片、镀金等高反光工件。设备标配 C-mount 相机接口，可搭载工业相机采集图像，全程齐焦，变焦无需重复对焦，长工作距离预留充足操作空间，支持桌面抽检与设备嵌入式集成。镜头污染、震动会造成成像

日本渋谷光学 SHIBUYA 单筒连续变倍显微镜

日本渋谷光学 SHIBUYA 单筒连续变倍显微镜

详细产品介绍SZ7 与 SZ7chi 是日本渋谷光学开发的工业单筒连续变倍视频显微镜，依靠多组光学透镜实现无级连续变焦，转动变焦环即可调整放大倍率，具备全程齐焦特性，改变倍率后不需要反复对焦，大幅提升质检效率。两款机型光学镜片均镀多层增透膜，画面平整，色差与畸变控制良好，满足精密零部件目视检查与图像采集需求。产品优势：

1. 机型区分，适配不同工件。SZ7 搭配外置环形落射光源，检测普通非反光零件；SZ7chi 集成同轴 LED 光路，光线沿光轴垂直入射，消除镜面反光，观察晶圆、镀膜件、抛光件细微划痕、针孔缺陷。

2. 标配 C 接口，可直接对接各类工业相机，完成图像存储、缺陷拍照留存，方便品质追溯。

3. 长工作距离设计，SZ7 工作距离 105mm，SZ7chi 工作距离 100mm，工件与镜头留有足够操作空间，可在观测时进行简单样品调整。

4. 结构紧凑，既可放置实验台做离线抽检，也可嵌入自动化检测工装，集成到机器视觉产线内部。

5. 光学稳定性强，长时间连续观测图像漂移小，适合工厂长时间批量质检作业。

参考技术数据：SZ7 总倍率 0.28×~2×；SZ7chi 总倍率 0.56×~3.92×；C-mount 倍率 0.4×；SZ7 工作距离 105mm，SZ7chi 工作距离 100mm；AC100‑240V 宽电压供电。

适用场景：半导体晶圆外观检查、PCB 与连接器质检、精密注塑件、冲压件表面缺陷观测、镀膜 / 镀层工件划痕检测、自动化视觉检测设备内置、实验室材料样品显微观测。使用局限：辅助物镜、光源为选购配件；镜片沾染油污粉尘会降低成像清晰度；设备需要安装在防震台面，震动会造成画面抖动。