描述：日本 CHINO 千野红外透射式测厚仪IRMA7800S 红外透射式测厚仪，采用投光、受光分体对射结构，依靠红外吸收原理实现非接触在线连续测厚，用于透光薄膜、薄膜表面涂层厚度监测。采样刷新周期 28ms，测量光斑 Φ5mm，适配高速卷材生产线。可存储 99 组材质校准曲线，换产一键切换配方，配备 4-20mA 模拟量与 RS485 通讯，对接 PLC 上位机，实现产线厚度闭环调控。

产品型号：IRMA7800S
厂商性质：代理商
更新时间：2026-09-21
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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION

日本 CHINO 千野红外透射式测厚仪 日本 CHINO 千野红外透射式测厚仪

产品介绍产品细节图实拍 IRMA7800S 发射端与接收端整套主机；镜头窗口特写；设备铭牌型号刻印；配套显示控制器实拍；卷材生产线现场安装实景。可直观查看分体式结构、安装方式。

产品性能红外透射式非接触测量，探头不接触卷材，不会划伤薄膜基材。双波长比值算法，降低车间粉尘、环境光源、基材色差带来的测量干扰。数据刷新速度快，适配高速走料工况。内置多组材质曲线存储，不同产品快速切换参数。模拟量、数字通讯双输出，可接入工控系统，实时监测厚度波动，用于工艺闭环控制，长时间连续运行稳定。

用材主机外壳铸铝材质，防尘防护；光学窗口耐磨透光镜片；内部精密红外光源与接收传感元件；屏蔽通讯线缆；内部电路板做三防涂层。

项目	参数
型号	IRMA7800S
测量原理	红外透射吸收式
测量光斑	Φ5mm（收发间距 50mm）
数据更新周期	28ms
存储曲线	99 组材质校准曲线
信号输出	4~20mA、RS485 Modbus
供电	AC220V
适用材料	透光薄膜、薄膜表面涂层