描述：日本 csc-biz落尘计数器 表面清洁度检测仪RACCAR 粗大落尘计数器，型号 CS-RA004，用于电子显示器、传感器表面沉降异物检测。以 4 英寸硅片作为采样板，识别 30μm 及以上粗大落尘，分 5 档粒径分级计数。单次检测仅需约 7~10 秒，自动采集颗粒图像，可导出 CSV 数据存档。弥补普通空气粒子计无法检测沉降大颗粒的短板，适合洁净车间落尘评估，验证除尘工艺效果。采样硅片可清洗重

日本 csc-biz落尘计数器 表面清洁度检测仪日本 csc-biz落尘计数器 表面清洁度检测仪

RACCAR 粗大落尘计数器，型号 CS-RA004，用于电子显示器、传感器表面沉降异物检测。以 4 英寸硅片作为采样板，识别 30μm 及以上粗大落尘，分 5 档粒径分级计数。单次检测仅需约 7~10 秒，自动采集颗粒图像，可导出 CSV 数据存档。弥补普通空气粒子计无法检测沉降大颗粒的短板，适合洁净车间落尘评估，验证除尘工艺效果。采样硅片可清洗重复使用，降低长期使用成本，多用于半导体、显示器件产线异物管控。

产品介绍

产品细节图

整机实拍图包含主机光学检测箱体、配套电脑与分析软件界面。细节特写包含样品载台、采样硅片放置区域、光学镜头组件、设备铭牌；软件界面图可直观查看颗粒彩色标记、粒径分布、落尘位置分布图。设备主机为封闭式黑色光学腔体，可阻挡环境杂光干扰，保障图像识别稳定，配套数据线、专用采样板清洗治具。

产品性能

设备采用光学图像识别方式，对采样板表面沉降颗粒自动识别、分级计数。最小可检出粒径 30μm，设置 5 个分级档位：≥30μm、≥50μm、≥100μm、≥150μm、≥200μm。单次测量速度快，7 至 10 秒完成一次扫描分析，软件用不同颜色标记不同尺寸粉尘，直观查看颗粒分布位置。系统同步保存原始图片与统计数据，支持 CSV 格式导出，方便做趋势追踪与批次对比。采样硅片经清洗后可反复使用，减少耗材支出。设备运行稳定，不易受轻微环境气流扰动，适合洁净车间在线评估，定位产线落尘源头，评估显示器、传感器零部件表面洁净水平。传统粒子计数器只检测空气中悬浮小微颗粒，本设备专门针对沉降粗大异物，这类大颗粒是电子元件表面不良的主要诱因。

用材

设备外壳采用高强度防静电工程塑料，防静电性能适配洁净室环境，不易产生新粉尘污染。内部光学镜头、感光芯片选用高稳定性光学元器件，抗温漂，成像清晰度稳定。样品载台为精密加工金属基材，表面平整，定位精度高，保障硅片每次放置位置一致。配套采样基板为 4 英寸硅晶圆，表面超平滑，便于捕捉沉降粉尘；配套清洗治具采用耐酸碱、低析出材质，清洗采样板时不会产生二次污染。

参数表

表格

用途

主要检测洁净环境沉降粗大颗粒，用于电子显示器、光学传感器、晶圆、触控面板等零部件表面清洁度评估。可用于产线落尘源头排查、设备除尘效果验证、洁净室日常监控，分析异物来源，减少元件表面粉尘造成的划痕、黑点、显示缺陷。广泛应用半导体、液晶显示、光学元件、精密零部件制造行业，也可用于洁净工作台、烘箱、干燥炉等工位的落尘测试。

包装

主机采用防震木箱包装，内部高密度泡沫对光学主机做缓冲隔离，防止运输震动损伤镜头。配套配件独立分装，包含采样硅片、清洗治具、数据线、软件 U 盘、操作手册。箱体标注防震、避光标识，光学腔体单独防护。到货开箱核对主机、配件清单、软件介质。

使用说明

设备放置于洁净台内，保持环境避光、平稳。将清洗干净的 4 英寸硅片放置在待测区域采集落尘，之后放入设备载台，软件启动扫描。等待数秒自动完成识别，查看图像与粒径统计结果，保存图片与数据。测试结束取出硅片，使用配套治具清洗、烘干，可重复采样。设备光学窗口保持洁净，禁止触碰镜头；定期做背景校准。禁止在强粉尘、强振动环境使用，避免镜头污染与成像偏差。