描述：日本JFEAdvantech TI-121T无损超声波测厚仪TI-121T 是日本 JFE Advantech 便携式超声波无损测厚仪，采用脉冲反射法，单面检测，无需破坏工件。支持注塑成型壳体、树脂件厚度检测，带涂层工件也可直接测量基材壁厚。分辨率 0.01mm，内置存储器可存储最多 10000 组测量数据，USB 导出至电脑。自带上下限报警与统计运算功能，可更换探头适配多种材质，适合注塑、塑胶壳

日本JFEAdvantech TI-121T无损超声波测厚仪日本JFEAdvantech TI-121T无损超声波测厚仪

TI-121T 是日本 JFE Advantech 便携式超声波无损测厚仪，采用脉冲反射法，单面检测，无需破坏工件。支持注塑成型壳体、树脂件厚度检测，带涂层工件也可直接测量基材壁厚。分辨率 0.01mm，内置存储器可存储最多 10000 组测量数据，USB 导出至电脑。自带上下限报警与统计运算功能，可更换探头适配多种材质，适合注塑、塑胶壳体质检，也可用于金属、玻璃、陶瓷等工件厚度检测。

产品介绍

产品细节图整机为手持式便携机身，蓝黑配色，正面搭载高清液晶显示屏与五枚功能操作按键；主机侧面连接探头信号线，探头为独立分体式结构，可按需更换不同规格。机身小巧轻薄，单手即可握持操作，机身上有校准试块。整套标配便携收纳箱，耦合剂、说明书、标准试块配套放置。探头接触端面耐磨，线缆柔软耐弯折，现场曲面壳体、异形注塑件均可贴合测量，操作便捷。

产品性能仪器采用超声波脉冲反射原理，仅从工件单面接触即可完成无损厚度检测，无需剖切样品，不会损伤注塑成型壳体。可直接穿透漆膜测量基材厚度，不用打磨去除表面涂层。测量分辨率 0.01mm，支持 mm/inch 单位切换；内置大容量存储，最多保存 10000 条测量记录，支持分组管理。自带统计运算，自动输出最大值、最小值、平均值与标准差，可设定厚度上下限，超标蜂鸣报警。USB 接口可将数据上传电脑做报表归档，可切换增益与声速参数，适配树脂、金属、玻璃等多种材质。探头可互换，覆盖不同厚度区间测量需求。

用材主机外壳选用高强度工程塑料，抗摔抗震，适合车间现场使用。探头外壳耐腐蚀，探头晶片采用高稳定性压电陶瓷，信号响应稳定。探头线缆采用屏蔽柔性线材，降低现场电磁干扰。配套标准校准试块选用合金材质，厚度均匀稳定；耦合剂为专用超声传导介质，不易腐蚀工件表面。内部主板做防潮防静电处理，电池仓结构可靠，长时间连续工作稳定。

参数表

表格

型号TI-121T 属于 JFE Advantech TI 系列数据存储型超声波测厚仪；同系列 TI-120T 功能相近，存储功能偏弱。TI-121T 重点强化数据记录与统计分析，适合注塑壳体批量抽检。可按需选配不同专用探头，适配薄壁塑胶、厚壁壳体、管材等不同工况。

用途注塑成型塑胶壳体壁厚无损检测；塑料件、树脂零部件厚度品质管控；带涂层工件基材壁厚检测；金属板材、铝件、玻璃、陶瓷厚度测量；管道壁厚腐蚀监测；产品研发试样厚度测试；工厂来料、成品质检，批量抽检并留存检测数据，用于工艺调整与品质追溯。

包装采用硬质便携仪器箱，内部成型泡沫定位，主机、探头、耦合剂、校准试块分槽放置，防止运输磕碰损伤探头晶片。箱内附带原厂检验证书、操作手册；外层加固纸箱，适合进口运输与车间转运，开箱清点配件方便。

使用说明打开仪器，使用配套校准试块完成设备校准；在被测注塑壳体表面薄涂耦合剂，将探头平稳贴合工件表面，读取厚度数值。可设置上下限阈值，厚度超出范围仪器自动蜂鸣报警。测量完成后，可保存数据，通过 USB 连接电脑导出测量记录。测量结束擦拭探头与工件表面耦合剂，清洁收纳。避免探头大力撞击，曲面工件选用适配探头，保持耦合充分，保证读数稳定。

售后服务我司提供到货开箱验收，协助现场校准、操作指导。原厂质保期内，非人为损坏故障提供维修；各类替换探头、耦合剂耗材可单独订货。可提供仪器年度校准咨询，协助客户根据注塑件壁厚范围选型探头，保障长期测量精度稳定。