描述：日本山田 YP-150I 精密光学元件缺陷检查灯YP-150I 是日本 Yamada 山田光学冷镜式高亮度卤素缺陷检查灯，采用二向色冷反射镜，大幅减少红外热辐射，保护热敏样品。标准照射距离 140mm，光斑 Φ30mm，照度≥400000lux，色温 3400K，显色优异。支持高低两档亮度一键切换，直流点灯照度波动≤1%。可清晰检出光学元件、晶圆表面划痕、雾斑、抛光不均、微小异物，适配 6 英寸以

日本山田 YP-150I 精密光学元件缺陷检查灯日本山田 YP-150I 精密光学元件缺陷检查灯

YP-150I 是日本 Yamada 山田光学冷镜式高亮度卤素缺陷检查灯，采用二向色冷反射镜，大幅减少红外热辐射，保护热敏样品。标准照射距离 140mm，光斑 Φ30mm，照度≥400000lux，色温 3400K，显色优异。支持高低两档亮度一键切换，直流点灯照度波动≤1%。可清晰检出光学元件、晶圆表面划痕、雾斑、抛光不均、微小异物，适配 6 英寸以内样品，半导体、光学车间目视外观缺陷检测，洁净室使用。

产品介绍

产品细节图整套由光源头、HPS-150 专用电源单元、升降调节支架组成。光源头为黑色金属壳体，底部带有 Φ12mm 标准安装轴，可固定在支架上自由调节照射高度与角度。光源头内置卤素灯、二向色冷镜与强制风冷风扇，下方输出集中光束；电源盒面板带有数字显示、亮度调节按键，可一键切换高低照度。光源头尺寸 102×351×128mm，重量约 2.65kg，电源单元独立放置，管路简洁，可直接安装在洁净工作台。备用灯泡、延长支架为可选配件。

产品性能搭载 JCR15V150W 卤素光源，搭配二向色冷反射镜，可见光向前投射，红外热量向后排出，样品受热仅为传统反光镜的 1/3，避免光刻胶、薄光学膜受热变形。标准工况照射距离 140mm，光斑 Φ30mm，照度 40 万 lux 以上，3400K 连续白光，显色性好，微米级划痕、雾状瑕疵、微小颗粒都可清晰显现。直流点灯驱动，照度整体波动控制在 1% 以内，长时间连续检测亮度稳定，降低目视误判。高低两档照度切换，高照度用于大面积快速扫查，低照度适合浅层雾状缺陷观察。强制风冷散热，运行噪音低，适配半导体洁净车间环境。

用材光源头外壳采用防锈喷涂钢板，结构稳固，抗轻微磕碰。光学核心为二向色冷镜，光学镀膜稳定，长期使用衰减小。卤素灯座耐高温，接触稳定；内部风扇组件耐久，持续带走热量。安装轴为不锈钢材质，适配各类支架锁紧固定。电源外壳采用冷轧钢板，内部电路降噪处理，输出电压稳定，减少光源闪烁。

参数表

表格

型号YP-150I 为小口径紧凑型机型，同系列 YP-250I 光斑更大，适合 8 英寸基板检测。整套设备含光源头、电源、升降支架；可按需选购备用卤素灯泡、加长支架、遮光配件。

用途精密光学镜片、光学元件表面缺陷目视检查；6 英寸以内半导体硅片、碳化硅晶片外观检测；玻璃基板、光学薄膜划痕、雾斑、抛光不均检查；半导体、光学元器件生产车间、洁净室来料与成品抽检；对比抛光工艺前后表面质量，筛选微小异物、滑移缺陷。

包装定制防震木箱，光源头光学窗口单独防护，防止镀膜镜面磕碰划伤；电源单元泡沫隔离。箱内附带原厂检验报告、操作维护手册，灯泡独立密封包装，适合进口长途运输，现场开箱清点配件。

使用说明将光源头固定在升降支架，连接电源，确认接线无误。调整光源高度至 140mm 标准照射距离，放置待测样品，一键切换高低照度观察表面缺陷。开机前确认风扇正常运转；长时间检测留意灯泡工作时长。测试结束关闭电源，等待光源冷却再移动设备。光学窗口保持洁净，禁止硬物触碰；灯泡属于消耗件，达到寿命及时更换。