描述：日本 DENSOKU高灵敏电解式膜厚计 CT-3/CT-4日本电测 DENSOKU CT-3、CT-4 为小型高灵敏度电解式膜厚计，采用库仑电解法，符合 ISO、JIS 相关测试标准，适合金属电镀层厚度检测。支持金、镍、铬、锡、铜等单层镀层测量，CT-4 支持数据对接电脑。配备多种规格密封垫圈，适配不同测量区域，分辨率高，可检测超薄镀层。整机体积小巧，放置灵活，多用于电镀厂、电子零部件、连接器

日本 DENSOKU高灵敏电解式膜厚计 CT-3/CT-4日本 DENSOKU高灵敏电解式膜厚计 CT-3/CT-4

日本电测 DENSOKU CT-3、CT-4 为小型高灵敏度电解式膜厚计，采用库仑电解法，符合 ISO、JIS 相关测试标准，适合金属电镀层厚度检测。支持金、镍、铬、锡、铜等单层镀层测量，CT-4 支持数据对接电脑。配备多种规格密封垫圈，适配不同测量区域，分辨率高，可检测超薄镀层。整机体积小巧，放置灵活，多用于电镀厂、电子零部件、连接器、五金加工实验室，用于镀层工艺验证与来料抽检。

本款 CT-3、CT-4 是日本电测 DENSOKU 推出的小型电解式膜厚计，依靠库仑电解法测量金属镀层厚度，两款机型结构相近，CT-4 增加配套 PC 数据输出功能，方便数据归档与曲线查看。产品性能方面，仪器恒定输出电解电流，持续监测电位变化，当镀层溶解至基材时电位发生突变，仪器自动停止计时并换算膜厚数值。设备搭载多档电解速度，设置高灵敏档位，可满足镀金、铬等超薄镀层测试，最小分辨率可达 0.001μm。自带校准功能，搭配标准片校准，校准区间较宽，测量重复性稳定。CT-3 为基础数显机型，直接在屏幕读取厚度；CT-4 具备通讯输出，测试数据可传输至电脑保存、导出，适合需要留存原始检测记录的实验室使用。测试过程仅溶解密封圈限定的微小区域，对工件整体影响小。用材上，主机壳体为防锈硬质板材，耐实验室常规试剂擦拭；测试头密封圈采用耐电解液橡胶材质，密封性稳定，不易被电解液腐蚀；电极选用耐蚀金属，长期电化学工况下损耗平缓；配套试样台结构稳固，方便小件工件定位。型号分为 CT-3、CT-4，CT-3 为基础数显款，CT-4 为可连接 PC 版本，两款通用配套电解液、不同孔径密封垫圈。核心参数表

表格

用途主要用于电子连接器、端子、五金件、线路板等工件，检测镀金、镀镍、镀铬、镀锡、镀铜等金属镀层厚度，用于电镀产线工艺调试、来料检验、成品品质抽检，也可用于镀层配方研发测试。包装采用防震纸箱加内部泡沫隔离，电解液单独密封分装，标配测试台、多规格垫圈、标准校准片、清洁耗材、操作说明书，CT-4 附带配套通讯线材。使用说明：仪器放置在平稳、通风台面，远离强电磁干扰；根据待测镀层种类选择对应电解液与密封垫圈，垫圈紧贴工件表面，防止电解液渗漏；设置对应镀种参数后启动测试；测试完成及时清洁测试头，擦干残留电解液；定期使用标准片校验设备；电解液有腐蚀性，操作做好防护，废液按规范收集处理；不可用于非电解适配的非金属涂层。售后服务：供应商协助上机调试，指导 PC 端软件连接与数据导出；主机按照原厂标准提供质保，电解液、密封圈、电极属于消耗品，可单独询价采购；线上提供操作、故障排查支持，上门服务另行协商。