描述：日本Evident塑料金属超薄材料超声波测厚仪日本 Evident 72DL PLUS 超声波测厚仪，分为标准频率与高频版本，适配塑料、金属、玻璃、涂层等超薄试样单侧无损测厚。高频款兼容最高 125MHz 探头，可实现多层结构同步检测，最多识别 6 层界面厚度。配备 7 英寸触控屏，支持 A 扫波形显示，内置 Wi-Fi、蓝牙，可导出数据。整机防护等级 IP65，适合实验室与产线抽检，测量分辨率高

日本Evident塑料金属超薄材料超声波测厚仪日本Evident塑料金属超薄材料超声波测厚仪

日本 Evident 72DL PLUS 超声波测厚仪，分为标准频率与高频版本，适配塑料、金属、玻璃、涂层等超薄试样单侧无损测厚。高频款兼容最高 125MHz 探头，可实现多层结构同步检测，最多识别 6 层界面厚度。配备 7 英寸触控屏，支持 A 扫波形显示，内置 Wi-Fi、蓝牙，可导出数据。整机防护等级 IP65，适合实验室与产线抽检，测量分辨率高，无需破坏样品，广泛用于薄膜、薄壁件、多层镀层的厚度管控。

本款 72DL PLUS 是 Evident 推出的高频高精度超声波测厚设备，延续原奥林巴斯超声检测技术，主打超薄、多层结构的单侧厚度检测，区别于常规超声测厚仪，针对薄膜、薄壁、多层涂层这类难测薄样做了信号算法优化。仪器分为标准频率版本和高频版本，高频机型搭配超高频率单晶探头，能够捕捉薄层之间微弱的回波信号，解决传统测厚仪对极薄材料分层识别困难的问题，检测时只需要接触样品单侧表面，不需要穿透工件两侧，属于无损检测方式。从产品性能来看，设备搭载数字滤波模块，提升信噪比，减少玻纤、复合材料内部杂波带来的读数干扰。7 英寸彩色触控屏幕，支持 A 扫描波形、趋势图等多种显示布局，波形刷新率 60Hz，1-3 层测量最高可达 2kHz 测量速率，4 至 6 层测量最高 500Hz。测量分辨率可分三档设置，高分辨率档位可达 0.25μm，厚度数据存储容量 2GB，可保存约 40 万条厚度记录、2 万组波形文件。支持单点、两点自动校准，也可手动调整声速与零位偏移，内置 Wi-Fi 和蓝牙，方便和电脑终端对接，完成数据上传、报告整理，适配产线品质追溯需求。整机满足 IP65 防尘防喷水防护，适应车间粉尘、少量溅水的作业环境，电池续航最长约 8 小时，可外接电源持续作业。用材方面，主机外壳采用加固防滑壳体，边角带有缓冲防护结构，降低跌落磕碰带来的损坏风险。触控面板耐磨抗刮，适合现场反复操作。配套探头壳体密封处理，探头线缆耐弯折，耦合接触面经过精加工，保证超声波稳定传入被测材料。内部信号采集电路经过屏蔽处理，降低车间电机、变频器等外部电磁干扰，维持信号稳定。不同规格探头单独封装，适配金属、塑料、玻璃、涂层等不同声阻抗材料。型号方面，本次供应 72DL PLUS，区分标准版与高频版；标准版适配 0.5~20MHz 探头，用于常规壁厚检测；高频版支持最高 125MHz 探头，主打超薄单层以及多层镀层、复合膜分层检测，两者软件功能、硬件接口一致，探头配置和可测下限存在差异。用途上，主要用于塑料薄膜、薄壁金属件、玻璃基材、多层涂层、复合材料、漆层的厚度检测，适用于光学膜材、包装材料、精密冲压件、镀膜工件、罐体薄壁的来料检验与制程巡检。可在生产线上抽检，也可放置在实验室做精密测试，用来监控镀层厚度、薄膜均匀度、薄壁工件减薄情况，提前识别工艺波动，减少不良品产出。包装方面，主机、探头组、充电适配器、校准试块、耦合剂、说明书收纳在硬质便携防护箱，内部海绵分区缓冲，隔离光学和超声探头，防止运输震动损伤晶片。标准配置包含测厚主机、基础探头、校准块、充电组件；不同频率高频探头、延长线缆、专用耦合介质、PC 端分析软件属于选配配件，可按需订购。使用说明方面，测量前根据被测材料选择适配探头，清洁样品测点表面，涂抹适量耦合剂；开机后选用对应材料声速，使用标准试块完成校准。测量时探头平稳贴合样品表面，避免压力过大或者滑移，观察 A 扫回波波形，确认界面回波清晰稳定后记录厚度数值。多层检测时提前设置分层识别参数，核对各层回波信号。作业结束后擦拭探头晶片，清理残留耦合剂；长期存放时取下探头，主机和探头置于干燥环境，定期补电。售后服务方面，我司提供到货验收、校准操作、波形判读、软件联机指导。主机按照原厂条款提供质保，超声探头、线缆属于消耗配件，不在质保范围内，可长期供应替换探头及配套耗材。遇到回波杂乱、读数跳变、通讯连接异常、校准失败等问题，优先线上排查，复杂故障可对接原厂技术支持。

核心参数表

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