描述：日本Yamabun山文电气台式薄膜片材质测厚仪日本 yamabun 山文电气 TOF-6R001 台式离线测厚仪，光栅恒压接触式结构，专为超薄光学膜、片材研发质控设计。量程 5～100μm，分辨率 0.01μm，配备 0.12N/0.19N 两档测压，避免软质薄膜受压形变。支持单点检测、连续扫描、边缘扫描三种模式，可自动生成厚度分布曲线，数据 USB 导出。重复性优异，适合锂电隔膜、PI 膜、功能

日本Yamabun山文电气台式薄膜片材质测厚仪日本Yamabun山文电气台式薄膜片材质测厚仪

日本 yamabun 山文电气 TOF-6R001 台式离线测厚仪，光栅恒压接触式结构，专为超薄光学膜、片材研发质控设计。量程 5～100μm，分辨率 0.01μm，配备 0.12N/0.19N 两档测压，避免软质薄膜受压形变。支持单点检测、连续扫描、边缘扫描三种模式，可自动生成厚度分布曲线，数据 USB 导出。重复性优异，适合锂电隔膜、PI 膜、功能薄膜、涂层基材实验室试样检测。

本款 TOF-6R001 是山文电气 TOF-6R 系列主打高精度薄膜测试的台式离线测厚设备，区别于 TOF-4R 宽量程款、TOF-5R 常规薄膜款，TOF-6R001 针对极薄软膜优化了测压结构，降低加压带来的压缩误差，是光学薄膜、锂电基材研发实验室常用机型。设备自带内置电源，无需额外独立电源箱，配套上位软件即可完成数据采集与分析，自动走样扫描消除人工放置样品带来的测量偏差。从产品性能来看，设备采用线性光栅传感方案，最小显示值 0.01μm，20℃条件下指示精度 ±0.2μm，重复精度可达 0.03μm。测量压力分两档可选，低压力档位适配超薄、低刚度薄膜，防止样品被压薄导致数据失真；常规档位用于常规塑胶片材。测量模式包含单点快速抽检、长距离连续扫描、卷材边缘专项扫描，连续扫描模式下可以采集整条试样多点厚度数据，输出厚度分布曲线，吹塑膜还可生成雷达图，辅助调整生产工艺。测头可选蓝宝石材质或者金刚石材质，蓝宝石款性价比高、耐磨稳定；金刚石测头适合含填料、有磨蚀性的薄膜样品。整机走样速度稳定，扫描行程可控，适配多种幅宽小样。用材方面，设备基座采用减震配重底座，降低环境震动对微米级测量的干扰；工作台面平整光滑，送样顺畅，不容易划伤薄膜样品。光栅传感组件出厂经过多点温度补偿，环境小幅温度波动时漂移量低；传动结构精密，走样匀速稳定。整机结构紧凑，占用实验室工位空间小。型号方面，TOF-6R001 为 TOF-6R 系列标准高精度版本；同系列 TOF-6R002 为加长扫描行程款；TOF-4R 量程更大，适合厚片材；TOF-5R 适合常规薄膜大批量 QA 检测。选型重点看薄膜厚度范围、样品柔软程度以及是否需要边缘扫描功能。用途上，主要用于 PI 聚酰亚胺膜、锂电隔膜、光学 PET 膜、功能性涂层薄膜、软质高分子片材的厚度检测，用于新材料配方研发、来料质控、卷材厚薄均匀度评估。包装方面，测厚仪主机、通讯线缆、操作软件 U 盘收纳于防震木箱，测头部位单独防护，防止磕碰划伤。标准配置包含 TOF-6R001 主机、配套分析软件、操作手册；金刚石测头、原厂校准证书、微型打印机属于选配配件，按需订购。使用说明方面，设备放置在震动小、远离空调直吹的工作台，开机预热稳定后，使用标准量块校准零点。装夹薄膜样品，选择对应的测压档位与测量模式后启动测试。测试结束及时清洁工作台面，避免粉尘附着在测头表面。长期存放做好防尘遮盖，定期使用标准块复核精度。售后服务方面，主机原厂质保，测头属于消耗配件，不在质保范围，可提供原厂校准维护。出现读数漂移、走样卡顿、采集异常等问题，优先线上排查，复杂故障对接原厂技术支持。

核心参数表

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