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光学器件

亮度计色度计测量仪折光仪滴定仪磁通计高斯计升降机连接器探头干涉仪糖度计色差仪

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PAL-HIKARi 2日本爱拓ATAGO 葡萄专用近红外无损糖度计日本爱拓ATAGO 葡萄专用近红外无损糖度计本设备为日本 ATAGO 爱拓 PAL-HIKARi 2 葡萄专用近红外无损糖度计，依托近红外光谱吸收原理开展检测，无需切割果实、无需压榨取汁，仪器探头贴合葡萄表皮即可直接获取糖度数值，实现非破坏性测量。机身搭载数字显示屏，同步显示糖度与果实温度，内置自动温度补偿功能，降低环境温差带来的测量偏差。

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更新日期
2026-07-27

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GMS-103日本EMIC 磁粉探伤专用表面磁场高斯计日本EMIC 磁粉探伤专用表面磁场高斯计本设备为日本 EMIC（电子磁气工业）GMS-103 手持式高斯计，严格契合JIS Z 2320 磁粉探伤试验标准，专为无损检测磁粉探伤场景开发，用于测量工件表面切向磁场强度。搭载双通道霍尔传感元件，采用外推磁场推定算法，单次测量精准估算工件表面磁通密度，有效消除探头摆放距离带来的测量偏差。

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更新日期
2026-07-23

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代理商

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SALD-2300日本SHIMADZU 激光衍射式粒度分布测量仪日本SHIMADZU 激光衍射式粒度分布测量仪本设备为日本 SHIMADZU 岛津 SALD-2300 激光衍射式粒度分布测量仪，依托激光衍射散射原理，对粉末、悬浮浆料开展粒径分布分析，支持湿式、干式多种进样模式。搭载 680nm 半导体激光光源，单一光路无需切换光源，测量区间覆盖 17nm～2500μm。

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更新日期
2026-07-22

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CM-36dG日本KONICA MINOLTA 台式分光测色计日本KONICA MINOLTA 台式分光测色计本设备为日本 KONICA MINOLTA CM-36dG 卧式一体式分光测色计，行业内置 60° 光泽传感、单次同步采集色彩 + 光泽双参数，同时支持反射、透射两种测量模式，适配含荧光增白剂、透明薄膜、有色液体、粉体颗粒等全类型样品品质管控。

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更新日期
2026-07-20

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CMS-35SP日本村上色彩MCRL 台式分光测色计日本村上色彩MCRL 台式分光测色计本设备为日本 MCRL 村上色彩 CMS-35SP 积分球式台式分光测色计，兼顾反射、透射双模式测量，依托成熟光学架构实现稳定重复测色，广泛配套工厂 CCM 计算机配色系统，适配涂料、油墨、塑料、薄膜、印染、玻璃、液体等全品类材料色彩管控。机身支持立式、卧式两种摆放形态，固体板材垂直放置即可检测，液体、薄膜可水平装载。

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更新日期
2026-07-20

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